Два подхода к контролю за качеством продукции

К сожалению, полностью предотвратить брак продукции не удается, поэтому возрастает роль всех видов контроля качества продукции.

В настоящее время на предприятиях используются два подхода к контролю качества. При первом подходе в соответствии с методом Тейлора принято считать одинаково качественной всю продукцию, значение каждого параметра которой находится внутри соответствующего допуска. Потерю качества по Тейлору иллюстрирует график на рис. 9.2. Наилучшему качеству труда соответствует значение F = 0. A_min, A_max – поле допуска на параметр.

Рис. 9.2. Функция потери качества по Рис. 9.3. Функция потери

Тейлору качества по Тагути

Появление сложных информационно-измерительных комплексов, включающих ЭВМ, позволяет использовать метод Тагути ( см. рис. 9.3), в основе которого оценивание качества по отклонению от середины поля допуска. Потеря качества оценивается квадратичной функцией

, (9.1)

где Х_i – значение измеряемого параметра.

При первом подходе применяется точечная оценка измеряемых параметров (см. п. 8.3.1), а в роли показателя качества выпускаемой продукции используется число дефектных единиц на определенный объем продукции. Так, для приемочного контроля электронных компонентов фирм Японии «приемлемый уровень качества» определяется в 10 дефектных единиц на 1 млн. элементов, стандартами США соответствующий показатель в зависимости от жесткости контроля устанавливается от 50 до 100 дефектных изделий на 1 млн. элементов. При этом возникает проблема оценивания избранного показателя по данным выборочного контроля (см. п. 8.4). Используются результаты форсированных испытаний.

Предложенный в стандартах ИСО показатель уровня дефектности в единицах РРМ (10⁶) является средним показателем уровня качества партии продукции, готовой к отправке. Партии изделий, не соответствующие данному показателю, предлагается подвергать существенной доработке, после доработок рекомендуется проводить сплошной контроль. При проведении подобного контроля большое значение имеет определение дефекта. Применительно к электронным компонентам различают:

· РРМ-1 - функциональные отказы;

· РРМ-2 - несоответствие электрических характеристик;

· РРМ-3 - несоответствие визуально определенных механических характеристик;

· РРМ-4 - нарушение герметичности;

· РРМ-5 - все виды дефектов.

Оценкой уровня дефектности является выражение:

, ( 9.2)

где X_i - общее число дефектных изделий рассматриваемого вида из i - партии , n_i – объем случайной выборки из из i – партии, m – число партий продукции. Данная оценка дает удовлетворительные результаты, если n_i > 250 и X_i < 0.1 n_i (используется аппроксимация 50% доверительной границы уровня дефектности при применении биномиального распределения).

При накоплении информации по различным видам дефектов допускается также объединенная оценка:

, (9.3)

где D_об - общее число дефектных изделий, l - число отбракованных партий, N_об - общий объем выборки. Любое изделие, которое имеет более одного дефекта, следует учитывать только один раз. При использовании накопленных данных фиксируется, за какой период они были накоплены.

Планы РРМ требуют проведения сравнительно небольшого объема испытаний за счет использования низкой доверительной вероятности. Погрешности принимаемых на их основе решений значительны, но поскольку областью применения этих планов является выходной контроль, когда за счет других мероприятий уже выявлено большинство дефектов, применение таких испытаний по контролю качества оправдано. Планы РРМ могут быть использованы для проверки стабильности производства.

При втором подходе (рис. 9.3) используется значительно больше информации для принятия решения, поскольку фиксируется не только факт нахождения измеряемого параметра внутри поля допуска, но и его конкретное значение. Уровень дефектности при этом определяется в виде интервальной оценки (см. п. 8.3.2). Точность получаемых оценок при фиксированном объеме выборки для второго подхода будет выше, по сравнению с оценками, получаемыми по методу оценки качества по Тейлору.

_____________________

9.1. Александровская Л.Н. Современные методы безотказности сложных технических систем: учебник / Л.Н. Александровская, А.П. Афанасьев, А.А. Лисов. М.: Логос, 2003.

9.2. Шонбергер Р. Японские методы управлением производства / Р. Шонбергер. М.: Экономика, 1988.