Преимущества цифровой схемотехники
ПРЕИМУЩЕСТВА ЦИФРОВОЙ СХЕМОТЕХНИКИ
• ВОСПРОИЗВОДИМОСТЬ (ПОВТОРЯЕМОСТЬ) РЕЗУЛЬТАТОВ ДЕТЕРМИНИРОВАННОГО ПОВЕДЕНИЯ ЦИФРОВОЙ СХЕМЫ ПРИ ЗАДАННОМ ВХОДНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ. НЕ ТРЕБУЕТСЯ РЕГУЛИРОВКА И ПОДСТРОЙКА ПАРАМЕТРОВ СХЕМЫ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ.
• ГИБКОСТЬ И ФУНКЦИОНАЛЬНОСТЬ ОБЕСПЕЧИВАЕТСЯ ФОРМАЛИЗАЦИЕЙ И АЛГОРИТМИЗАЦИЕЙ (МНОГОВАРИАНТНОЙ) ЗАДАЧ ОБРАБОТКИ И ХРАНЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ
• ПРОГРАММИРУЕМОСТЬ ОБЕСПЕЧИВЕТСЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЯЗЫКОВ ОПИСАНИЯ КАК СТРУКТУРЫ, ТАК И ВЫПОЛНЯЕМЫХ ФУНКЦИЙ ЦИФРОВОЙ АППАРАТУРЫ (HDL – HARDWIRE DESCRIPTION LANGUAGE)
• БЫСТРОДЕЙСТВИЕ СОВРЕМЕННЫХ ЦИФРОВЫХ СБИС (СВЕРХБОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ) ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ СВЕРХМАЛЫМ ВРЕМЕНЕМ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ – 10 ПИКОСЕКУНД
• МИКРОМИНИАТЮРИЗАЦИЯ КАК СЛЕДСТВИЕ РАЗВИТИЯ ГРУППОВЫХ МЕТОДОВ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ТЕХНОЛОГИИ – РОСТ СТЕПЕНИ ИНТЕГРАЦИИ И ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ СЛОЖНОСТИ, СНИЖЕНИЕ СЕБЕСТОИМОСТИ
• АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ – АВТОМАТИЗАЦИЯ ОСНОВНЫХ ПРОЕКТНЫХ ПРОЦЕДУР АНАЛИЗА И СИНТЕЗА ЦИФРОВЫХ СХЕМ НА ОСНОВЕ МЕТОДОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ И ФОРМАЛЬНОЙ ВЕРИФИКАЦИИ
• УНИФИКАЦИЯ И МАСШТАБИРУЕМОСТЬ ПРЕДПОЛАГАЕТ ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ТИПОВЫХ ПРОЕКТНЫХ РЕШЕНИЙ И СТАНДАРТНЫХ СИСТЕМНЫХ ИНТЕРФЕЙСОВ
• РАЗВИТИЕ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В ОБЛАСТИ СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ОБРАБОТКИ И ХРАНЕНИЯ ДАННЫХ – НОВЫЕ ПРИНЦИПЫ ОРГАНИЗАЦИИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО ПРОЦЕССА, НОВЫЕ АРХИТЕКТУРЫ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ, ВСТРАИВАЕМЫЕ СИСТЕМЫ(EMBEDDED SYSTEMS) НА ОСНОВЕ ТЕХНОЛОГИИ «СИСТЕМА НА КРИСТАЛЛЕ»
ИСПОЛНЕНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ
РОЛЬ СТАНДАРТИЗАЦИИ В ЦИФРОВОМ ПРОЕКТИРОВАНИИ
СТАНДАРТЫ В ЦИФРОВОЙ СХЕМОТЕХНИКЕ ОПРЕДЕЛЯЮТ:
- ТИПОВЫЕ КОНСТРУКТИВЫ (КРИСТАЛЛЫ, КОРПУСА ИС, ФОРМ-ФАКТОРЫ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ).
- ТЕХНОЛОГИИ ПРОИЗВОДСТВА КОМПОНЕНТОВ И СБОРКИ КОНСТРУКЦИЙ
- МАРШРУТЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ САПР (В РФ ПРИВЯЗКА К СТАДИЯМ И ЭТАПАМ НИОКР)
- КРИТЕРИИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА РАЗРАБОТКИ
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
ИНТЕГРАЛЬНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
В интегральной микроэлектронике на основе теории цепей, булевой алгебры и теории автоматов реализуются традиционные методы схемотехнического проектирования аналоговых и цифровых узлов, устройств и систем из дискретных компонентов - объединЕНИЕ отдельныХ микроэлектронныХ приборОВ (ТРАНЗИСТОРОВ, РЕЗИСТОРОВ, ДИОДОВ – СХЕМНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ) с функциями, сосредоточенными в локальном объеме («статическИЕ неоднородностИ»)
«статическАЯ неоднородность» - локальнАЯ область с отличными от ее окружения свойствами, созданнАЯ на поверхности или в объеме полупроводникового кристалла в результате выполнения заданной последовательности технологических операций (ДИФФУЗИЯ ПРИМЕСЕЙ, ТРАВЛЕНИЕ, ФОТОЛИТОГРАФИЯ). ОТКАЗ ОДНОЙ «статической неоднородностИ» ПРИВОДИТ К ОТКАЗУ ВСЕЙ СИСТЕМЫ.
ПРИМЕР СИСТЕМЫ КРИТЕРИЕВ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА РАЗРАБОТКИ ЦИФРОВЫХ ИС
• СТОИМОСТЬ (ФИКСИРОВАННАЯ – ЗАТРАТЫ НА РАЗРАБОТКУ, КОСВЕННАЯ – ЗАТРАТЫ НА НИР И ПОДГОТОВКУ ПРОИЗВОДСТВА, ПЕРЕМЕННАЯ – ЗАТРАТЫ НА ИЗГОТОВЛЕНИЕ ИС)
• ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ ОПРЕДЕЛЯЮТСЯ НАЗНАЧЕНИЕМ ИС
• ПОМЕХОУСТОЙЧИВОСТЬ (УСТОЙЧИВОСТЬ К ШУМАМ И ИХ ПОДАВЛЕНИЕ, РЕГЕНЕРАТИВНОСТЬ СИГНАЛОВ)
• БЫСТРОДЕЙСТВИЕ (ЗАДЕРЖКА ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ВЕНТИЛЯ)
• ПРОИЗВОДИТЕЛЬНОСТЬ (ОСОБЕННОСТИ АРХИТЕКТУРЫ)
• ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЕ (СТАТИЧЕСКОЕ И ДИНАМИЧЕСКОЕ)
• ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ НОРМЫ ПРОИЗВОДСТВА ЦИФРОВЫХ ИС
• КРИТЕРИИ ПРОТИВОРЕЧИВЫ, ВЫБОР ГЛАВНЫХ ИЗ НИХ ЗАВИСИТ ОТ ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ ИС
ПРОЕКТИРОВАНИЕ НА HDL
• Языковые описания обладают рядом принципиальных особенностей, определяющих порядок проектирования цифровых систем. Во-первых, их можно использовать на любых уровнях иерархии. Во-вторых, в зависимости от стадии проработки проекта описание может быть поведенческим (модуль – черный ящик), что характерно для начальных этапов работы над проектом, или структурным (вплоть до уровня логических элементов) на заключительных этапах.
Какие преимущества это дает разработчику:
• Возможность использования функционального моделирования для верификации проекта (выявления ошибок проектирования) на ранних этапах проектирования;
• Автоматический синтез структуры системы на уровне логических элементов по функциональному описанию с учетом ограничений, задаваемых разработчиком;
• Переносимость проекта на кристаллы с иной архитектурой
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ IP-БЛОКОВ
• IP – (INTELLECTUAL PROPERTY) УНИФИЦИРОВАННЫЕ, СЕРТИФИЦИРОВАННЫЕ БЛОКИ (ЯДРА, CORES) ПРОЦЕССОРОВ, ПАМЯТИ, КОНТРОЛЛЕРОВ, ИНТЕРФЕЙСОВ, СОЗДАННЫЕ ПРИ ПОМОЩИ ЯЗЫКОВ ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ (HDL)
• СТАНДАРТНЫЕ ИНТЕРФЕЙСЫ IP-БЛОКОВ НЕОБХОДИМЫ ДЛЯ ИХ МНОГОКРАТНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РАЗЛИЧНЫМИ РАЗРАБОТЧИКАМИ В РАЗЛИЧНЫХ ПРОЕКТАХ
• РАЗРАБОТКА СТАНДАРТОВ - VSIA (VIRTUAL SOCKET INTERFACE ALLIANCE)
ЛОГИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
ЛОГИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ – СПОСОБ ИСКУССТВЕННОГО, ПРИБЛИЖЕННОГО ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ РАБОТЫ ЛОГИЧЕСКИХ СХЕМ ПРИ ПОМОЩИ ПРОГРАММ, ВЫПОЛНЯЕМЫХ КОМПЬЮТЕРОМ
РЕШАЕМЫЕ ЗАДАЧИ
• СИНХРОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ – ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ ВЕРИФИКАЦИЯ, ПОИСК ГРУБЫХ ОШИБОК ПРОЕКТИРОВАНИЯ
• АСИНХРОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ – ВРЕМЕННАЯ ВЕРИФИКАЦИЯ, ДИНАМИЧЕСКИЙ ВРЕМЕННОЙ АНАЛИЗ, КОНТРОЛЬ ПРАВИЛЬНОСТИ ПОДАЧИ ВХОДНЫХ ВОЗДЕЙСТВИЙ НА ЭЛЕМЕНТЫ ХРАНЕНИЯ СИНХРОННЫХ СХЕМ
• МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ – АНАЛИЗ ПОЛНОТЫ КОНТРОЛИРУЮЩИХ ТЕСТОВ ДЛЯ ЗАДАННОГО КЛАССА НЕИСПРАВНОСТЕЙ (ОДИНОЧНЫЕ КОНСТАНТНЫЕ НЕИСПРАВНОСТИ)
СТАТИЧЕСКИЙ ВРЕМЕННОЙ АНАЛИЗ (СВА)
• ЦЕЛЬ – ОПЕРАТИВНАЯ ОЦЕНКА БЫСТРОДЕЙСТВИЯ СХЕМЫ
• СХЕМА ПРЕДСТАВЛЯЕТСЯ В ВИДЕ ОРИЕНТИРОВАННОГО ВЗВЕШЕННОГО ГРАФА
• ВЕРШИНЫ – УЗЛЫ СХЕМЫ (ВХОДЫ И ВЫХОДЫ ЭЛЕМЕНТОВ)
• ДУГИ ОПРЕДЕЛЯЮТСЯ ЛОГИКОЙ РАБОТЫ И ИМЕЮТ ВЕСА, РАВНЫЕ ЗАДЕРЖКАМ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛОВ МЕЖДУ УЗЛАМИ (ЗАДЕРЖКИ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ И ЗАДЕРЖКИ В ЛИНИЯХ СВЯЗИ)
• ЗАДАЧА – ОТЫСКАТЬ КРИТИЧЕСКИЕ ПУТИ – ПУТИ В ГРАФЕ ОТ ВХОДОВ СХЕМЫ ДО ЕЕ ВЫХОДОВ С МАКСИМАЛЬНЫМИ СУММАРНЫМИ ЗАДЕРЖКАМИ, КОТОРЫЕ БУДУТ ОПРЕДЕЛЯТЬ БЫСТРОДЕЙСТВИЕ СХЕМЫ
• ПРОБЛЕМА – ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЛОЖНЫХ ПУТЕЙ, КОТОРЫЕ НИКОГДА НЕ АКТИВИРУЮТСЯ ПРИ ВЫПОЛНЕНИИ АЛГОРИТМА РАБОТЫ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ (ПЕССИМИСТИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА БЫСТРОДЕЙСТВИЯ – ЛОГИКА РАБОТЫ СХЕМЫ НЕ УЧИТЫВАЕТСЯ)
• АЛЬТЕРНАТИВА – ДИНАМИЧЕСКИЙ ВРЕМЕННОЙ АНАЛИЗ – СУЩЕСТВЕННО БОЛЕЕ ТРУДОЕМКАЯ ПРОЦЕДУРА
ПРИМЕР ПОСТРОЕНИЯ ГРАФА СХЕМЫ
ПРИМЕР ЛОЖНОГО ПУТИ
ЕСЛИ F1= A or B, ТО ИЗМЕНЕНИЕ СИГНАЛА В УЗЛЕ А 0→1 НИКОГДА НЕ ВЫЗОВЕТ ИЗМЕНЕНИЯ СИГНАЛА 1→0 В УЗЛЕ Е. ПО ЭТОЙ ПРИЧИНЕ ДУГА С ВЕСОМ Dae+- ВО ВРЕМЕННОМ ГРАФЕ ДОЛЖНА БЫТЬ УДАЛЕНА, А ВСЕ ПУТИ, ВКЛЮЧАЮЩИЕ ЭТУ ДУГУ РАССМАТРИВАТЬСЯ НЕ БУДУТ (ЭТО И БУДУТ ЛОЖНЫЕ ПУТИ).
ПЕЧАТНЫЕ ПЛАТЫ
Печатная плата (ПП) – конструкция электрических межсоединений (печатных проводников) на плоском изоляционном основании.
1. ПП, которые производятся по современным технологиям, являются коммутирующими и несущими конструкциями различных уровней конструктивной иерархии ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ (ИС, ячейки, объединительные платы ячеек в составе блоков).
2. На ПП механически закрепляются и в соответствии с принципиальной схемой электрически соединяются навесные и пленочные электронные компоненты.
ОБЩЕЕ ТРЕБОВАНИЕ К ПЕЧАТНЫМ ПЛАТАМ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ
По своим основным параметрам – трассировочной способности, частотному диапазону, помехозащищенности современные ПП, должны соответствовать характеристикам СБИС сверхвысокого быстродействия, выполненных в корпусах с большим числом ВЫВОДОВ и малым расстоянием между НИМИ
МЕТОДИКА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ПП
• МЕТОДИКИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ пп ОСНОВАНЫ НА СИСТЕМНОМ ПОДХОДЕ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧИ проектирования высоконадежной аппаратуры на БИС и СБИС в миниатюрном исполнении
• субмикронныЕ технологическим нормЫ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ СВЕРХВЫСОКОГО БЫСТРОДЕЙСТВИЯ потребовали адекватного совершенствования ТЕОРЕТИЧЕСКИХ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ методов конструкторского проектирования и технологий ПП, как основного средства интеграции СБИС в систему
• ОСНОВНОЕ СРЕДСТВО РАЗРАБОТКИ - САПР ПП, ПОЗВОЛЯЮЩИЕ РЕШАТЬ ЗАДАЧИ МОНТАЖНО-КОММУТАЦИОННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ С УЧЕТОМ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ТРЕБОВАНИЙ ПО КАЧЕСТВУ ПЕРЕДАЧИ СИГНАЛОВ, ТЕПЛОВЫМ РЕЖИМАМ КОМПОНЕНТОВ И МЕХАНИЧЕСКИМ НАГРУЗКАМ (АСОНИКА, ALTIUM DESIGNER)
• Конечная цель конструкторов и технологов ПП состоит в обеспечении таких технико-экономических показателей ПП, которые сбалансированы с характеристиками современных БИС и СБИС, ТАК КАК Для функционально сложных высокочастотных SoB и SiP ПП становится элементом схемы
КАТЕГОРИИ ЧАСТНЫХ ТРЕБОВАНИЙ ПРИ РАЗРАБОТКЕ ПП
1. конструкторские (обеспечивают механическую прочность и сохранение характеристик ПП в заданных условиях эксплуатации);
2. электрические (обеспечивают максимальное значение электропроводности элементов печатного рисунка и минимальные токи утечки между ними, А ТАКЖЕ МИНИМАЛЬНЫЙ УРОВЕНЬ ПАРАЗИТНЫХ СВЯЗЕЙ – ЕМКОСТНЫХ И ИНДУКТИВНЫХ);
3. технологические (обеспечивают условия для бездефектной сборки конструкций на основе ПП);
4. климатические (определяют условия обеспечения работоспособности ПП в составе электронной аппаратуры заданного класса (наземной, бортовой, морской) при воздействии факторов внешней среды).
КЛАССЫ ТОЧНОСТИ ПП
Характеристика элементов печатного рисунка | Класс точности ПП | ||||
Минимальная ширина проводника, мм | 0.75 | 0.45 | 0.25 | 0.15 | 0.10 |
Минимальный зазор между проводниками, мм | 0.75 | 0.45 | 0.25 | 0.15 | 0.10 |
Минимальная ширина контактной площадки, мм | 0.30 | 0.20 | 0.10 | 0.05 | 0.025 |
Отношение значений минимального диаметра металлизированного отверстия и толщины ПП | 0.40 | 0.40 | 0.33 | 0.25 | 0.20 |
ДВУСТОРОННЯЯ ПП
Конструкция двусторонней ПП: 1 – изоляционное основание, 2 – навесной электронный компонент со штыревыми выводами, 3 – металлизированное отверстие для монтажа компонента , 4 – контактная площадка для компонента поверхностного монтажа, 5 – компонент поверхностного монтажа, 6 – переходное металлизированное отверстие, 7 – печатный проводник, 8 – контактная площадка для компонента со штыревыми выводами.
МНОГОСЛОЙНАЯ ПП (МПП)
Конструкция МПП:1 – печатные проводники; 2 – электронный компонент; 3 – глухое переходное металлизированное отверстие; 4 – скрытое переходное металлизированное отверстие; 5 – сквозное металлизированное отверстие; 6 – слои изоляционного материала.
Содержание задач монтажно-коммутационного ПРОЕКТИРОВАНИЯ
- Компоновка – распределение элементов схемы по модулям различных уровней иерархии (критерий – Min межмодульных соединений)
- Размещение модулей нижнего уровня в коммутационном пространстве модуля верхнего уровня (критерий – Min суммарной взвешенной длины соединений)
- Трассировка межмодульных соединений (критерий – Min суммарной длины соединений)
ПРЕИМУЩЕСТВА ЦИФРОВОЙ СХЕМОТЕХНИКИ
• ВОСПРОИЗВОДИМОСТЬ (ПОВТОРЯЕМОСТЬ) РЕЗУЛЬТАТОВ ДЕТЕРМИНИРОВАННОГО ПОВЕДЕНИЯ ЦИФРОВОЙ СХЕМЫ ПРИ ЗАДАННОМ ВХОДНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ. НЕ ТРЕБУЕТСЯ РЕГУЛИРОВКА И ПОДСТРОЙКА ПАРАМЕТРОВ СХЕМЫ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ.
• ГИБКОСТЬ И ФУНКЦИОНАЛЬНОСТЬ ОБЕСПЕЧИВАЕТСЯ ФОРМАЛИЗАЦИЕЙ И АЛГОРИТМИЗАЦИЕЙ (МНОГОВАРИАНТНОЙ) ЗАДАЧ ОБРАБОТКИ И ХРАНЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ
• ПРОГРАММИРУЕМОСТЬ ОБЕСПЕЧИВЕТСЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЯЗЫКОВ ОПИСАНИЯ КАК СТРУКТУРЫ, ТАК И ВЫПОЛНЯЕМЫХ ФУНКЦИЙ ЦИФРОВОЙ АППАРАТУРЫ (HDL – HARDWIRE DESCRIPTION LANGUAGE)
• БЫСТРОДЕЙСТВИЕ СОВРЕМЕННЫХ ЦИФРОВЫХ СБИС (СВЕРХБОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ) ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ СВЕРХМАЛЫМ ВРЕМЕНЕМ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ – 10 ПИКОСЕКУНД
• МИКРОМИНИАТЮРИЗАЦИЯ КАК СЛЕДСТВИЕ РАЗВИТИЯ ГРУППОВЫХ МЕТОДОВ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ТЕХНОЛОГИИ – РОСТ СТЕПЕНИ ИНТЕГРАЦИИ И ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ СЛОЖНОСТИ, СНИЖЕНИЕ СЕБЕСТОИМОСТИ
• АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ – АВТОМАТИЗАЦИЯ ОСНОВНЫХ ПРОЕКТНЫХ ПРОЦЕДУР АНАЛИЗА И СИНТЕЗА ЦИФРОВЫХ СХЕМ НА ОСНОВЕ МЕТОДОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ И ФОРМАЛЬНОЙ ВЕРИФИКАЦИИ
• УНИФИКАЦИЯ И МАСШТАБИРУЕМОСТЬ ПРЕДПОЛАГАЕТ ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ТИПОВЫХ ПРОЕКТНЫХ РЕШЕНИЙ И СТАНДАРТНЫХ СИСТЕМНЫХ ИНТЕРФЕЙСОВ
• РАЗВИТИЕ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В ОБЛАСТИ СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ОБРАБОТКИ И ХРАНЕНИЯ ДАННЫХ – НОВЫЕ ПРИНЦИПЫ ОРГАНИЗАЦИИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО ПРОЦЕССА, НОВЫЕ АРХИТЕКТУРЫ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ, ВСТРАИВАЕМЫЕ СИСТЕМЫ(EMBEDDED SYSTEMS) НА ОСНОВЕ ТЕХНОЛОГИИ «СИСТЕМА НА КРИСТАЛЛЕ»