Какая информация необходима для проведения качественного фазового анализа в электонографии? Как ее можно получить?

Необходимо снять электронограмму образца, затем при тех же условиях снять эл-грамму эталона и определить постоянную эл-графа. Зная после этого С и определяя R из кр-ия Вульфа-Бреггаd_HKL= получают d/n и определяют фазу.

Электронная микроскопия

Чем отличается темнопльное и светлопольное изображения?

Если изображение формируется только прямым (т.е. прошедшим) пучком, такое изображениеназывается светлопольным. В случае, когда апертурная диафрагма пропускает один издифрагированных пучков, изображение называется темнопольным

Какимобазом осуществляется переход от светлопольного к темнопольному изображению? Опишите последовательность перехода.

Ввести селекторную диафрагму, изменить силу тока в промежуточной линзе, т.е получили дифракционное изображение. Ставим апертурную диафрагму, увеличить силу тока, т.е переходим в микроскопическое изображение, убираем селекторную диафрагму, получаем темное поле.

103.Что нужно сделать для перехода от темнопольногоизображеня {200} к темнопольномуизображеню {400}.

Нужно изменить положение апертурной диафрагмы так, чтобы она вырезала рефлекс {400}

Каким образом осуществляется переход от микроскопического к дифракционному изображению объекта?

Выбираем область, вводим селекторную диафрагму.

Для чего нужна апертурная диафрагма? В каких режимах можно увидеть ее края?

Апертурная диафрагма нужна для выделения дифрагированных лучей от разных плоскостей для получения темнопольного изображения.

Для чего нужна селекторная диафрагма? В каких режимах можно увидеть ее края?

Селекторная диафрагма необходима для выделения интересующего участка объекта. Края можно увидеть в дифракционном режиме изображения объекта.

Для чего нужна конденсорная линза?

Конденсорная линза формирует узкий пучок практически параллельных лучей которые попадают на образец.

Для чего нужна объективная линза?

Объективная линза необходима для формирования первичного увеличения изображения объекта. Увеличение порядка 100

Для чего нужна промежуточная линза?

Промежуточная линза обеспечивает увеличение порядка 10. Нужна для получения на экране изображения дифракционной картины.

Для чего нужна проекционная линза?

Проекционная линза. Увеличение порядка 100. Необходима для переноса увеличенного микроскопического или микродифракционного изображения на экран.

111.Какие виды образцов можно исследовать в ПЭМ? Каковы требования к образцам?

В ПЭМ исследуют два типа образцов: реплики и тонкие металлические фольги. С увеличением толщины образца увеличивается путь электронов в образце, отсюда следует, что возрастает вероятность их рассеяния и поглощения. Предельная толщина также уменьшается с увеличением атомного номера элемента, входящего в состав образца.

Зондовая микроскопия

Какие задачи решаются методами РЭМ в отраженных электронах?

Задачи РЭМ в отраженных электронах: исследование химической однородности объема. Вотраженныхe(с чертой на верху) получается контраст в изображении областей, различающихся по химическому составу, что позволяет делать выводы о числе фаз в образце.

Какие задачи решаются методами РЭМ во вторичных электронах?

Задачи РЭМ в ВЭ: изучение топографии поверхности образца. Топографический контраст возникает потому, что число эмитируемых ВЭ зависит от наклона поверхности образца: оно значительно возрастает с уменьшением угла между зондом и зондируемой поверхностью.

Какие задачи решаются методами РМА?

Задачи, решаемые методом РМА: определение элементарного состава микрообъемов по возбужденному в них характеристическому рентгеновскому излучению. А также проведение качественного и количественного ФАЗАНа. В металловедении – анализ распределения элементов.

Каким образом отсекаются вторичные электроны в РЭМ?

Сетка коллектора может иметь отрицательный потенциал, который запирает вход ВЭ.