Керамикалық бұйымдардың жалпы қасиеттері

Құрылыстық керамика бұйымдарына оларды пайдалану процесінде әсер ететін жағдайларға байланысты түрлі талаптар қойылады. Көпшілігінде бұл талаптар керамика бұйымдарының су сіңіргіштігіне, аязға төзімділігіне, механикалық беріктігіне, химиялық және термиялық тұрақтылығына, үйкелістігіне, су өтімдідігіне қойылады. Керамикалық бұйымдардың бұл қасиеттері олардың кеуектігі мен тығыздығына едәуір байланысты.

Керамикалық сүйектің (бүйымының) кеуектігі, әдетте 10-40% аралығында болады. Оның шамасын кеуектендіруші заттар қосу арқылы кең аралықта реттейді. Кірпіштердің және керамикалық тастардың тығыздығын және жылу өткізгіштігін азайту максатымен оларды түрлі пішіндегі куыстықпен шығарады.

Су сіңіргіштігі - керамикалық сүйектің кеуектігін сипаттайды. Кеуекті керамикалық 6ұиымдардың су сіңіргіштіктері ылғал массасы бойьнша 6-20 %, ал көлемі бойынша 12-40% Сондай-ақ, тығыз керамикалық бұйымдардікі массасы бойынша 2-10%

Кеуектік пен су сіңіргіштік аралығында тікелей байланыстық жоқ, себебі керамикалык материалдарды су сіңіргіштігіне сынағанда кеуектері түгелдей сумен қанықпайды. Олай болатыны керамикалық сүйекте жабық және майда (диаметрі 1 мкм жетпейтін) кеуектері сумен толтырылмайды. Сондықтан да, кейбір қүрылыстық керамика бұйымдарының кеуектігі су сіңіргіштігінен екі есе жоғары келеді.

Үлгілерді сумен қанықтыру тәсілдері және ұзақтығы, сынауға алынатын үлгілердің саны, сондай-ақ, бұйымдардың нақтылы түрлері үшін қабылданатын су сіңіргіштік шамасы керамикалық бұйымдар стандартында келтірілген. Түрлі бұйымдардың су сіңіргіштігін стаңдарт брйынша аңықтайды.

Жылу өтқізгіштігі - керамикалық бұйымдардың кеуектігі мен қуыстығына байлаңысты. Ңағыз тығыз керамикалық сүйектің жылу өткізгіштігі - 1,6 Вт/(м- С). Кеуектігі мен қуыстығы ұлғайған сайын, керамикалық бұйымдардың тығыздығы мен жылу өткізгіштігі едәуір төмендейді, мысалы қабырғалық материалдардың 1800-700 кг/м аралығындағы тығыздықтарына сәйкес, жылу өткізгіштік коэффициенттері 0,8-ден 0,21 вт/(м^,0С) дейін төмендейді. Осыған сай,сыртқы қабырғаның қалыңдығы және қоршалушы конструкциялардың материал сыйымдылығы азаяды.

Мықтылығы (беріктігі) - керамикалық сүйектің фазалық құрамына, кеуектілігіңе және жарықсыздығына байланысты. Қабырғалық бұйымдардың (кірпіш және т.б.с.с. материалдар) мықтылығы бойынша маркасы олардың қысқандағы мықтылық шектерін сипаттайды, бірақта конструкциялық бұйымдардың (кірпіштердің т.б.) маркасын анықтарда қысқандағы мықтылық шегімен қатар игендегі мықтылық шегінде ескереді. Оның себебі, мысалы, кірпіш үй қабырғаларында ию күш әсерін де қабылдайды. Пайдаланатын жеріне байланысты керамикалык бұйымдар, мысалы, кәдімгі кірпіштер 75-тен 300-ге дейінгі маркада, тығыз керамикалық бұйымдар (клинкерлік - жол кірпіштері және бас). 400-ден 1000-ға дейінгі маркаларда шығарылады.

Аязға тұрактылығы - керамикалык бұйымдардың сумен каныккан куйінде байқаларлықтай бұзылу белгісінсіз (қабаттану, қабыршықтану, шетінеу, мүжілу, бояулану) ауыспалы мұздау және еру циклдар әсерінің нактылы рет қайталану санына шыдамдылығымен сипатталады. Аязға тұрақтылық көрсеткіші ретінде маркасы алынған. Ол МСТ бойынша керамикалық бұйымдардың төзімділігіне сай ауыспалы мұздаңу және еру циклдарының ең көп санымен анықталады.

Ауыспалы мұздану және еру циклының сол ең көп саны бойынша керзмикалық бұйымдардың структураларына байланысты мынандай маркалары болады: 15, 25, 35, 50, 75, 10

Бұйымдардың аязға төзімділігін МСТ бойына анықтайды. Суға 1 қанықтырылған бұйымдар үлгілері мұздатқыш камераға орналастырады да, -15- -20°С температуралык деңгейде 4 сағат бойы ұстайды, содан соң температурасы +15+ +20°С суда кем дегенде 2 сағат бойы батырып қойып, толық жібітеді. Бір мүдцату мен жібіту I бір цикл сынауын қүрайды. Егер қажетті цикл саны 35-ке дейін болса, онда үлгілерді әрбір 5 циклдан соң қарап бұзылу белгілерінің барын не жоғын тексереді, ал егер қажетті цикл саны 35-тен көп болған жағдайда, әрбір 10 циклдардан соң байқайды. Егер сонда қажетті цикл санынан соң, үлгілерде жоғарыда айтылған зақымдылық белгілері байқалмаса, онда олар аязға төзімді болып саналады.

Керамикалық бояулар аязға төзімді болуы үшін олар не тым тығыз болу керек, не оларда судың мұздардағы ұлғаюына кеңістік болатындай артық кеуектердің (капиллярлық қысымы аз болатындыктан, суды ұстай алмайтын диаметрі 200 мкм үлкен кеуектер) жетерліктей болғаны жөн.

Керамикалық бүйымдардың бу және ауа өткізгіштігі үйлердіңөзінше ауа алмастыру тынысын тудырады. Бу өткізгіштігі аз болған жағдайда ылғалдылығы жоғары үйдің ішкі қабырға беттері суланып түратыны белгілі. Бу және ауа өткізгіші керамикалық бұйымдардың кеуектілік дәрежесіне және олардың сипаттарына байланысты. Мысалы, су сіңіргіштігі 8,5; 6,5 және 0,25% шала қүрғақтай пресстелініп жасалынған үймаңдай плиткаларының бу өткізгіштігі 0,155; 0,0525 және 0,029 г/(м-сағ.- Па). Бу өткізгіштігі эртүрлі сыртқы қабырға қабаттары ылғалдың жинала беруін туғызады. Айталық, үймаңдай бетін глазурланған плиткалармен қаптау қабырға мен плитка арасында ылғал жиналуына мүмкіндік туғызып, кейін кыс мезгілінде жиналған судың мүзға айналатындығынан плиткалар қабырғадан ажырап түсіп қалатын жағдайлар сирек кездеспейді.

Термиялық төзімділігі- керамикалық бұйымдардың, әсіресе қаптаушы плиткалардың немесе санитарлық бүйымдардың температураның күрт өзгеруіне бұзылу нышанынсыз шыдай беруінде. Қабырғаны іштей қаптауға арналған глазурланған керамикалық плиткалар 125°С температурасына дейін қыздырғанда және температурасы 18-20°С суға батырып, кенет суытқанда ешбір жарыксыз, шетінеусіз, сынықсыз төзімдік білдіруі керек. Плиткалардың термиялық төзімділігін МСТ бойынша анықтайды. Санитарлық керамикалық бүйымдардың үлгілерін (МСТ) екі кайталап сынау (хлорлы кальций ерітіндісінде және температурасы 110°С суда 3 сағат бойы қайнатып барып, температурасы 3 С суды суыту арқылы) нәтижесінде үлгілердің глазурланған бетінде қыл сияқты жіңішке шетінеген жарықтар немесе басқа бүліну белгілері байқалмаса, онда оны термиялык төзімді деп санайды. Санитарлық керамика бүйымдарының термиялық төзімділігін үш рет 85⁰ С дейін қыздырып және температурасы +17⁰ +20°С суда суыту сынағына бүліну нышанынсыз төзімділік қабілетімен сипатталынады.

Химиялық төзімділігі- керамикалық бұйымдардың агрессивті ортада түрақтылығы. Бүл қасиеті бойынша қышқылға төзімді (қышқыл әсеріне түрақтылығы) және сілтіге төзімді (сілті әсеріне тұрактылығы) бұйымдар деп бөлінеді. Керамикалық бұйымдардың химиялық тұрақтылығы белгілі мөлшердегі майдаланған бұйымның 1 сағ. бойы күкірт қышқылында немесе 20%-ды тұзқышқыл ерітіндісінде (натрий гидроксиді) қайнатқаннан кейінгі массаның, оның қайнатқанға дейінгі массасына қатынасымен сипатталынады, оны пайызбен өлшемдейді. Химия және термотұрақты бұйымдардың қышқыл төзімділігін МСТ, сілті төзімділігін МСТ бойынша анықтайды. Санитарлық керамикалык бұйымдар глазурасының химиялық тұрактылығын ауданы 25 см² кем емес үлгілерде 24 сағат бойы 10%-дық тұзқышқылы ерітіндісімен немесе 10%-дық сілті (натрий гидроксиді) ерітіндісімен әсер еткеннен кейінгі бұзылу белгісінің жоқтығымен сипаттайды. Глазурдың бұзылу дәрежесін үлгілердің глазурланған бетін қаламмен сызғанда, іздің қалатынымен және оның мөлшерімен тәнтіленеді.

Мықтылығы (беріктігі)- керамикалық бұйымдардың қысқандағы, үзгендегі жэне игендегі мықтылық шегімен сипатталынады. Құрылыстық керамика бұйымдарының мықтылығы МСТ бойынша арнаулы үлгілерді немесе бүтін бұйымдарды, мысалы керамикалык каналдық кұбырларды (МСТ) кирата сынау арқылы анықтайды. Керамикалық бұйымдардың беріктігі олардың құрамына және кеуектігіне байланысты. Кеуектігі ұлғайған сайын беріктігі төмендей түседі. Әдетте, керамикалық бұйымдардың қысқандағы мықгылық шегі 25-500 МПа, игендегі - 10-70 МПа.

Үйкелістігі (тозғыштығы)- үйкеліс күш эсерімен материал өзінің көлемін және массасын азайту қабілетімен сипатталынады. Үйкеліс көрсеткіші еденге төселінетін плиткалар үшін маңызды. Плиткалардың үйкелістегі абразивті (егеуші) материал (құм немесе корунд) қабаты төселінген тегістегіш табаққа (дискаға) 0,06 МПа қысымдықпен тиелген плиткалар ауданының бір өлшеміне, келетін масса шығынымен сипатталынады. Мұнда тегістегіш айналмалы табақ төрт рет 30 айналыстан жасау керек және де әрбір 30 айналыстан соң, плиткаларды 90° бұрып қойып отыру қажет.

Дәріс № 6

Тақырыбы: Рентгендік дефектоскопияның негізі.

Рентгендік дефектоскопия құбырды қабырғасынын қалындығының әртүрлігінін, табақ прокаттың қалындығының тұрақсыздығын, пісірлген жіктің сапасын бағалағанда, кіші өлшемді әртүрлі бөлшектерді бақылағанда кең түрде қолданылады. Бұл рентгенографияның шығыны мен көлемі жағынан ең үлкен дербес саласы.

Z (реттік нөмір) мен μ(сызықтық әлсіреу коэфициенті) бойынша айырмашылығы болатын кірмесі бар бұйымды қарастырайық. Егер сәуле ақау арқылы өтпес, онда бұйымнан шығар жердегі рентген сәулелерінің интенсивтілігі мынаған тең J_D=J₀e^-μD.

Егер сәуле ақау арқылы өтетін болса, онда интенсивтілік J_D=J₀e^-μ(D-d). e^-μD= J₀e^-μD J₀e^-(μ`-μ). Бейненің контрастылығы деген ұғым ендіруге болады

1-сурет

Адамның көзі пленканың қараюының 10%-ке дейінгі айырмашылығынан ажырата алады. (μ`-μ) неғурлым көп болса соғурлым ақауды табу оңай. Мысалы μ`=0 K=e^μd. Ақау неғұрлым ірі болса, контраст соғурлым жоғары болады. Қараюдің қатансына қарай ақаудың матрицадан ауыр не жеңіл екнін айтуға болады.

Рентгендік дефектоскоптың маңызы сипаттамасына байқауға болатын ақаудың ең минималды қалыңдығының бұйымның қалыңдығының қатнасына тең проценттік сезгіштігі жатады. Мүмкіндігінше Р шамасының аз болғаны дурыс.

Проценттік сезгіштікке бір қатар факторлар әсер етеді, олардың негізілері болып:

1) қараю тығыздығы. Бұл шама 1,1-ден артық болуы керек (D=lgJ₀-lgJ. D=kJτ). Әдетте сәулелендіру режімін қараю тығыздығы 1,2-2,0 болатындай етіп таңдап алады. Бұл жағдайда адамның көзі бәрінен бұрын негативтің қараюының аз градациясын айыра алады.

2) Қолданылатын сәуленің қатқылдығы (тұтас спектр пайдаланылады). Суреттен көрініп тұрғанындай λ үлкен болған сайын яғни сәулелену неғурлым жұмсақ болса соғурлым контрастылық жоғары. Бірақ сәуленің қатқылдығы неғурлым аз болса соғурлым аз қалындық зерттеледі әрі экспозиция көп.

2-сурет

Бұлардан басқа проценттік сезгіштікке:

1. рентген түтігінің фокусының шамасы,

2. түтіктен объектіге (бұйымға) дейінгі ара қашықтық.

3. үлгіден флуоресценттік шашырау әсер етеді.

Бұл факторлар контрастылықты нашарлатады, ақаудың айналасында жартылай көлеңкенің пайда болуына әкеледі, сонымен нақтылы қол жеткізуге болатын процентік сезгіштік ~3%.

Егер экспозиция уақыты 20-30 минуттан артпаса дефектоскоптық бақылау экономика тұрғысынан пайдалы деп есептелінеді. Дегенмен бағасы бақылаудың бағасынан анағурлым аз болшектер болуы мүмкін, бірақ олардың істен шығуы бағасы бақылаудың бағасынан әлдеқайда асып түсетін бұзылулар туғызуы мүмкін. Бұл жағдайда барлық бөлшектерді бақылау, экономикалық ақталған (мысалы шатунды бекітетін бұрандалар үшін). Әдетте бақылауды ішінара партия бойынша жүргізеді, ал ақау табылатын болса, онда бөлшектердің барлық партиясын тексереді.

Егер бөлшектің пішіні күрделі болса, онда бақылау кезінде мұндай бөлшектің қараю тығыздығын теңестіретін әдейі компенсатор қолданада. Компенсатор ретінде μ`-ы бұйымның μ-на тең сұйық немесе сусымалы заттар болады. Бөлшекті ыдысқа салып сұйық компенсатормен бастырады, немесе сусымалы компенсатормен көмеді. Әдетте сұйық компенсатор ретінде тұздардың ерітіндісін қолданады (мысалы BaSO₄).

3-сурет

Көбінесе ақау жатқан теңдікті анықтау керек болады. Ол үшін түтікті 1-ші орынан 2-ші орынға жылжытып бөлшекті екі рет түсіреді, немесе бір пленкаға бір уақытта екі 1 және 2 сәуле көзінен түсіреді. Кескінді 1` және 2` нүктелерінде алады. Екі үшбырыштың ұқсастығынан мына қатынастарды аламыз

Осы қатнастан ақаудың жатқан тереңдігі х-ты табамыз.

Қалындығы үлкен бұйымдарды (~300÷500 мм болаттарды) сәулелендіру үшін рентген сәулесінің көзі ретінде рентген түтіктерінің орнына бететрондардан және электрондарды сызықтық удеткіштерден алынған рентген сәулесін пайдаланады. Оларда электрондар оншақты Мэв энергияға дейін үдейді және тұтас спектрлі рентген сәулесі алынады.

Рентгендік дефектоскопиядан басқа материалды бақылау үшін γ-дефектоскопия да қолданылады. γ-сәуленін көзі ретінде әдетте Co-60, Jr-192, Cs-137 қолданылады.

γ-дефектоскопта жұмыс істеу қауыпсыздік техникасы бойынша күрделілеу.

Рентгендік дефектоскопияда фотоәдістен басқа тікелей жарқырағыш (флуорескопиялық) экран бойынша бақылау кең қолданылатындығын айта кету керек. Рентген сәулелерін сцинтиляциялық және ионизациялық есептегіш көмегімен тіркеу пайдаланылады, электролюминисценттік экрандарды да қолданады.

Соңғы уақытта бақылау үшін теледидардың экранында тікелей бақылауға болатын, рентгендік кескінді теледидарлыққа өзгертетін рентгенвидикондар пайдаланылады.

Рентгендік кескінді әуелі электрондық кескінге, сосын тікелей көзбен бақыланатын оптикалыққа өзгертетін электрондық-оптикалық өзгерткіштер де қолданылады.

Рентгендік дефектоскопияда пайдаланылатын қондырғылар РУП (сәулелендіру үшін қолданылатын ретген қондырғылар) деп аталады.

Көптеген жағдайларда олар бақылауды тікелей жергілікті орындарда жүргізуге (пісірілген жіктердің сапасын, турбиндердің қалақтарын) мүмкіндік беретін жинақты тасылмалданатын қондырғылар.

Рентгенспектралдық талдаудың негізі. Рентгенспектральдық талдаудың міндеті заттың химиялық құрамын сапа және сан жағынан анықтау. Бұл әдіс әрбір элементке өзінің сипатталатын спектріндегі толқын ұзындығынын λ₁ –λ_n жиынтығы сәйкес келетіндігіне негізделген. Әдетте K және L серияларын талдайды.

Рентгенспектралдық әдістің оптикалық спектралдық әдістен артықшылықтығы:

1) спектрдің қарапайымдылығы (сызықтар а₃),

2) спектрдің толқын ұзындығы λ-ның практика жүзінде атомаралық байланыстың түріне тәуелсіздігі.

Рентген спектрін қоздыру тәсілі бойынша рентгенспектралдық талдау эмиссиондық, флуоресценттік және абсорбциондық болып бөлінеді.

Эмиссиондық талдау тәсілінде зертелмекші үлгіден рентгендік сәулелену тез ұшатын электрондардың әсерінен қозады.

Флуоресцентік рентгеноспектралдық талдауда қатқыл рентгендік сәулеленудің әсерінен зерттелмекші заттың құрамына кіретін элементтердің екінші реттік сипатталатын (сызықтық) спктрлері қозады.

Абсорбциондық әдіс жұту спектрін талдауға негізделген. Бұл әдісте рентгендік сәуле зерттелмекші зат арқылы өткеннен кейін талданады. Талдау затты құрайтын элементтердің жұту шетінің толқын ұзындықтары бойынша іске асырылады. (λ_K, λ_L,…).

Рентгенспектралдық талдаудың абсорбциондық әдісі сұйықтардағы салыстырмалы ауыр кірмелерді анықтау үшін пайдаланылады. Сұйық әлсіреу коэфициенті μ аз материалдан жасаған кюветаға құйылады (орналастырылады). Сұйық арқылы өткен сәуле спектрге жіктеледі. Сәулелер зат арқылы өткенде болатын спектрдің өзгеруі талданады.

Абсорбциондық әдістің екі түрі бар: а) тұтас спектрді жұту әдісі λ_к маңындағы секірменің шамасы бойынша, б) сипатталатын спектрді пайдаланғанда секірменің екі жағында жатқан сипатталатын спектрдің екі сызығының интенсивтілігі салыстырылады, зертеллетін заттың жұту коэфициенті сәуле үлгіден өткенге дейін және өткеннен кейін анықталады.

Кәзіргі уақытта көбінесе флуоресценттік талдау қолданылады. Оның кемшілігне эмиссиондыққа қарағанда сызықтардың интенсивтілігінің аздығы жатады, ал оның артықшлығы үлгі қызбайды, сондықтан оның құрамы өзгермейді. Флуоресцентік талдау ең жоғарғы сезгіштікке ие: 0,04-0,0005%.

Эмиссиондық талдаудың сезгіштігі 0,1-0,01%.

Абсорбциондық әдістің сезгіштігі салыстырмалы төмен 0,5÷0,15%.

Рентгенспектралдық талдауды жүргізу әдісі.Рентгенспектралдық талдауды жүргізу үшін талданатын үлгіден алынатын сәуле жазық және иілген кристалдарды-анализаторларды қолданатын спектрографтардың көмегімен спектрге жіктеледі.

Үлгіден оның құрамына сәйкес келет толқындар жиынтығы бар сәйкес келетін толқындар жиынтығы бар сәуле шығады. Әрбір λ=const мәнінде кристалл-анализатордан шағылу тек Вульф-Брэгтер шарты орындалғанда ғана іске асады, яғни кристалды белгілі бір бұрышқа бұрғанда ғана іске асады. Пленкада сызықтар жүйесін аламыз. Сәулені есептегішпен тіркесек онда интенсивтіліктің бұрышқа тәуелділігі мынадай түрде болады.

4-сурет

формуласы бойынша λ-ны есептеп шығарып, алынған мәліметтерді әртүрлі элементтердің спектріндегі толқын ұзындықтарымен салыстырып зертелмекші заттың сапалық химиялық құрамын анықтайды.

Спектрограф сызықтарды пленкада тіркеуге мүмкіндік беретін приборлар.

Сызықтарды есептегішпен тіркеуге мүмкіндік беретін приборды спектрометр дейді.

5-сурет

Флуоресценттік рентгендік талдауды қолданғанда көпканалды спектрометрлерді (квантометрлерді) кең пайдаланады. Бір мезгілде бірнеше элементтің (30-ға дейін) мөлшерін анықтауға болады. Әрбір кристалл-анализатор белгілі бір элементке дәлденген (икемделген).

6-сурет

Бұлардан басқа кристалсыз анализаторларда қолданылады БАРС-1, БАРС-2. Олар әдетте элементтік құрамы бойынша біртипті үлгілерді сериялы талдағанда қолданылады. Бұл әдіс тек шектеулі элементтер саны үшін ғана пайдаланылады. Түсіру схемасы мынадай:

7-сурет

Сынамадағы қайсыбір элементтің мөлшерін зертелмекші үлгіде осы элемент сызығының интенсивтілігінің, сондай химиялық құрамды эталондық үлгідегі сандық мөлшері белгілі анықталмақшы элементтің сондай сызығының интенсивтілігіне қатнасы бойынша анақталады.

Неғұрлым эталонның құрамы зертелмекші үлгінің құрамына жақын болса, соғұрлым дәлдік жоғары болады.

Эмиссиондық рентгенспектралдық талдауда қалындығы 100÷1000Å қабаттық химиялық құрамы туралы мәліметтер алынады.

Флуоресценттік талдауда- қалындығы 10⁵÷10⁶Å қабаттың химиялық құрамы туралы мәліметтер алынады.

Рентгенспекрталдық талдауда алынған дәлдік химиялық талдауда алынатын дәлдікпен шамалас, бірақ рентгенспекралдық талдау өте айтарлықтай өнімді. Бір уақытта 22 элементке дейін талдауға мүмкіндік беретін приборлар бар. Мұнда мәшинелік (бағдарланған программаланған) талдау небәрі 30÷45 сек уақыт алады.

Жақын араға дейін рентгенспекралдық талдау элементтің нөмірі 11-ден кем болмауы керектігімен шектелегін еді, енді берилийдің (Z=4) тіптен литийдің (Z=3) мөлшерін талдауға мүмкіндік беретін приборлар бар.

Дәлдігі 0,2÷0,02% -ке жететің небәрі 0,3-2,0 мкм³ құрайтын микрокөлемнің химиялық құрамын анықтауға мүмкіндік беретін микрорентгенспектралдық талдау (жергілікті талдау) кең таралған. Жергілікті рентгенспекралдық талдауда қолданылатын приборды микроанализатор деп атайды. Микроскоп арқылы электрондық зонды заттың белгілі бір бөлігіне (металлографтық шлифтің бетіндегі) бағытталады. Сонымен элементтердің көлем бойынша, түйіршіктер бойынша, түйіршіктер шекарасы бойынша және т.б. таралуының зерттелуі мүмкін.

Әдетте кәзіргі заманғы микроанализаторларда диаметрі ~1000Å болатын электрондық шоғырлар қолданылады (электрондық шоғырдың жайылуы есебінен шоғырды шашырататын көлем әлдеқайда көп). Жергілікті аймақтың орташа диаметрі электрондық зондының d_min≈3÷5 тең. Советтік МАР-2 маркалы микроанализаторларда зондының диаметрі ~1000Å, ал айыра білу қабілеттілігі 1 мкм-ге тең.

Кәзіргі заманғы микроанализаторлар басқаратын және талдайтын электрондық-есептегіш машинелермен бірігіп жұмыс істейді. Мұндай аппараттың мысалына химиялық құрамын талдаудан басқа беттік кескінді электрондық сәулелерде көруге мүмкіндік беретін комибакс жатады (франциядағы КОМЕКА фирмасы шығарады).