Определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом

Цель работы – определение радиуса кривизны линзы в интерференционном опыте с кольцами Ньютона.

Краткое теоретическое введение

Постановка задачи

При наложении двух электромагнитных волн одинаковой частоты напряжённость результирующего поля определяется векторной суммой напряженностей исходных полей. Усреднённый по времени квадрат напряжённости электрического поля <E>2 служит мерой интенсивности I электромагнитных волн в данной точке. Эта интенсивность зависит от разности фаз накладывающихся волн. Если разность фаз остаётся неизменной за время наблюдения и частоты одинаковые, то такие волны называются когерентными.

Представим плоскую монохроматическую волну в виде

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru ,

где Е0 - амплитуда колебания, a =( определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru ) - фаза колебаний светового вектора, w- циклическая частота, определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru - модуль волнового вектора, определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru - геометрический путь от источника S до точки наблюдения, φ0 – начальная фаза. Численное значение волнового вектора связано с длиной волны λ, которая зависит от свойств среды, поэтому удобно ввести длину волны определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru в вакууме, определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , где n - показатель преломления среды. Для двух волн, распространяющихся в разных средах и интерферирующих друг с другом, разность фаз связана с оптической разностью хода соотношением

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , (1)

где r1 и r2 - расстояния (геометрические пути), пройденные, соответственно, волнами от первого и второго источников до точки наблюдения.

Если в некоторые точки пространства когерентные волны приходят с разностью фаз, кратной четному числу p, d = ±2pm, (где m = 0; 1; 2; ... - целые числа), то результирующее колебание имеет наибольшую амплитуду. В этих точках наблюдается максимум интенсивности (I = Imax).

Напротив, в тех точках пространства, куда волны приходят в противофазе, d = (2m +1)p, наблюдается минимум интенсивности. Удобно условия максимума и минимума интенсивности выразить через оптическую разность хода, используя соотношение (1):

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (2)

Совокупность чередующихся максимумов и минимумовинтенсивности образует интерференционную картину, чёткость которой зависит от степени когерентности волн.

Электромагнитные волны, излучаемые тепловыми источниками (лампы накаливания и пр.), некогерентны между собой. Это связано с тем, что атомы излучают цуг волн случайно, независимо друг от друга, переходя из более высокого энергетического состояния в низкое. Фаза волны, излучаемой при каждом таком переходе, принимает случайные значения.

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru Если за время tког (время когерентности) изменение фазы незначительно (не более p), то в течение этого времени волну можно рассматривать как квазимонохроматическую. Для волновых цугов оптического диапазона это время определяется временем жизни атома в возбужденном состоянии (~10-8с). Расстояние, которое проходит поверхность фиксированной фазы цуга за время tког, называется длиной когерентности Dког, Dког = ctког, где с – скорость света в вакууме, Dког = 3×108×10-8 ~ 3 м.

Исходя из сказанного, можно сформулировать общий принцип получения когерентных волн (интерференционной картины) от тепловых источников: при отражении или преломлении естественная световая волна (т.е. каждый цуг волн) делится на две части, которые проходят разные оптические пути, а затем, накладываясь в некоторой области пространства (на рис.1 в точке P), интерферируют друг с другом. В точках пространства, для которых

D < Dког, (3)

возникает интерференционная картина, четкость которой зависит от того, как сильно отличается разность хода от длины когерентности, Dког.

Способы реализации изложенного принципа можно условно разделить на два: способ деления волнового фронта (схема Юнга, зеркала Френеля, бипризма Френеля, зеркала Ллойда и т.д.) и способ деления амплитуды (тонкие плёнки, кольца Ньютона и т.д.).

Вывод расчетной формулы

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru В данной работе для определения радиуса кривизны линзы применяется метод колец Ньютона. Интерференционную картину можно наблюдать от воздушной прослойки, образованной плоскопараллельной пластинкой и лежащей на ней плосковыпуклой линзой достаточно большого радиуса. В этом случае геометрическим местом точек одинаковой толщины является окружность, и поэтому соответствующие полосы равной толщины будут иметь вид концентрических окружностей с центром в точке соприкосновения линзы с плоскопараллельной пластинкой.

Схема наблюдения колец Ньютона представлена на рис. 2. Луч света (1), направленного на систему, в точке М нижней стороны линзы делится на два: один (2) отражается, а второй преломляется и отражается от пластинки в точке N (3). Лучи 2 и 3 когерентны и при наложении интерферируют между собой.

Поскольку линза имеет большой радиус кривизны, то

MN + ND ≈ 2BE ≈ 2h.

Оптическая разность хода лучей 2 и 3 равна (отраженный свет)

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , (4)

где h - толщина зазора между пластинкой и линзой, n - показатель преломления среды, заполняющей пространство между ними (в рассматриваемом случае - воздух n = 1), l - длина волны падающего света. Слагаемоеl/2 возникает из-за изменения фазы волны на p при отражении от оптически более плотной среды ("потеря полуволны"), которое имеет место в точке N. Тогда

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (5)

В центре картины, где h = 0, наблюдается тёмное пятно, что соответствует разности хода отражённых волн l/2 (условие минимума интенсивности). Результат интерференции в данной точке (появление тёмного или светлого кольца) зависит от оптической разности хода волн.

Связь между радиусом rkинтерференционного кольца с номером k, радиусом R кривизны линзы и длиной волны l может быть найдена из простых геометрических соображений:

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (6)

Членом h2 ввиду его малости пренебрегаем. Тогда

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru = 2Rh. (7)

Условие минимума требует, чтобы на разности хода D (5) укладывалось нечётное число полуволн. Выражая h из (7) и подставляя в (5) с условием, что D = (2k + 1)×l/2, получим выражение для радиуса тёмного (минимум) кольца в отражённом свете

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (8)

Удобно вести измерение не радиуса, а диаметра Dk кольца (Dk = 2rk). Тогда из формулы (8) определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (9)

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru Из (9) следует, чтоD определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru линейно зависит от номера кольца k, при этом коэффициент пропорциональности равен (4lR).

Пример зависимости D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru от k приведен на рис.3. Пересечение прямой с осью ординат D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru при k = 0 дает значение D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . Тангенс угла наклона прямой к оси абсцисс, на которой откладывается номер кольца k, численно равен коэффициенту пропорциональности

tga = (4lR). (10)

Из графика значение

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (11)

Сравнивая (10) и (11), получаем

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , (12)

откуда

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . (13)

Так как экспериментальная прямая зависимости D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru от k проводится усредненно, то получается усредненное значение радиуса кривизны линзы.

Практическая часть

определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru Внешний вид установки представлен на рис. 4. Оптическая часть системы (1), линза с пластинкой в кольцевой оправе, укреплена на столике (2) измерительного микроскопа (компаратора), который может перемещаться в горизонтальном направлении. Фокусировка колец достигается вращением объектива (3) за нижний накатанный поясок (4). Микроскоп сфокусирован на воздушный зазор межу линзой и пластинкой. Измерения проводят по горизонтальной миллиметровой шкале (5), а также по микровинту (6).

1. Порядок выполнения работы

1. Измерения начинают с колец, удалённых от центра, но еще достаточно резких и отчетливых. Для исключения погрешности от люфта винта микроскопа его перемещают только в одном направлении.

2. Установить вертикальный штрих по касательной к левому краю тёмного кольца, например 7-го.

3. Произвести отсчёт. При этом целые миллиметры определяются по горизонтальной шкале (5), а десятые и сотые доли - по микровинту (6). Результаты измерений занести в таблицу.

4. Перемещая вертикальный штрих вправо, установить его последовательно на краях 6-го, 5-го, … 1-го колец, производить отсчёты и результаты заносить в таблицу. В промежутке между двумя отсчетами изменять фокусировку нельзя, так как при этом может произойти смещение оптической оси микроскопа, и произойдет изменение увеличения.

5. Перемещая вертикальный штрих дальше вправо, пройти центральное пятно. Установить вертикальный штрих по касательной к правому краю тёмного кольца, теперь уже начиная с 1 – го. Произвести отсчет.

6. Продолжить отчеты, проходя те же кольца только в обратном направлении (до 7-го). Результаты всех измерений занести в таблицу.

2. Обработка результатов измерения

Задание 1. Определение радиуса кривизны линзы.

1. По разности отсчётов (левого и правого) для одного и того же кольца найти диаметр этого кольца, Dk. Записать в таблицу.

2. Найти D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru . Записать в таблицу.

3. По данным таблицы построить график зависимости D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru от k, D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru (k).

4. По графику D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru (k) определить D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru (при k = 0) и по формуле (13) рассчитать R.

Таблица

Отсчет по микровинту (мм)    
кольца k левый правый Dk, мм D определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , мм2
       
       
       
       
       
       
       

Задание 2. Проверка неравенства D < Dког (3).

1. Вычислить толщину воздушного зазора для тёмного кольца с номером k, например, для k = 5: определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru .

2. Используя соотношение (4), рассчитать разность хода лучей по известному значению hk для l = 660 нм;

3. Оценить длину когерентности световой волны из соотношения определение радиуса кривизны линзы интерферометрическим методом - student2.ru , предполагая, чтоdl = 10 нм.

4. Сравнить значение Dког с разностью хода D лучей, вычисленной по формуле (4).

Контрольные вопросы

1. В чём состоит явление интерференции?

2. Какие волны называются когерентными?

3. Что происходит со световой волной при отражении от оптически более плотной среды?

4. Что такое временная и пространственная когерентности?

5. Что такое геометрическая и оптическая разности хода лучей?

6. От чего зависит чёткость интерференционной картины?

7. Как возникают кольца Ньютона?

8. Вывести формулу радиуса тёмного кольца в отражённом свете.

9. Как изменится картина колец Ньютона при изменении показателя преломления вещества, заполняющего зазор между линзой и пластинкой?

10. Почему в центре интерференционной картины возникает тёмное пятно? При каких условиях центральное пятно может стать светлым?

11. Как производятся измерения колец Ньютона?

Список литературы

1. Яворский Б.М., Детлаф А.А. Курс физики.

2. Физический практикум под ред. В.И. Ивероновой.

3. Трофимова Т.И. Курс физики.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 5–3

Наши рекомендации