Страница 4

Страница 2

ё'Иэдательстао стандартов, 1976

Страница 3

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ФОТОЭЛЕМЕНТЫ
МеТОДМ м-1«гргиив ГЧр41М«ГрСИя> ГОСТ
РЬоЧогеНв. МеНкнк оГ сЬагасдетКсз под5иктепЬ.
ь П0СГ1*40*Л9НН«М Г< 01.0179 до 01«,§4
Несоблюдение стекдерт* преследуете! по закону
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы н устанавливает общие положения для стандартов на метод измерения следующих параметров:
световой чувствительности;
нестабильности;
темпового тока;
сопротивления изоляции;
неравномерности чувствительности по фотокатоду; предела линейности световой характеристики в непрерывном режиме;
предела линейности световой характеристики в импульсном режиме.
1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
. ЕЛ» Измерение электрических н светотехнических параметров ^фотоэлементов следует производить в нормальных климатических условиях но ГОСТ 16962—71, если иное не установлено в стандартах на фотоэлементы конкретных типов* (далее—стандартах).
1.2. Измерение электрических и светотехнических параметров фотоэлементов следует производить в режимах, установленных в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
* Здесь и далее при отсутствии стандартов иа фотоэлементы конкретных типов, нормы, режимы к требования указываются в технической документации, утвержденной в установленном порядке.
И1дднче официальное Перепечатке ■оспрсщен*
3

Страница 4

Стр. 2 ГОСТ 11314.0—75
1.3. Параметры фотоэлементов измеряют в светонепроницаемой камере.
1.4. При измерении СИМВОЛ чувств и тел ьности. нестабильности, темнового тока, сопротивления изоляции, неравномерности чувствительности по фотокатоау, предела линейности световой да* рактернствкк в непрерывном я импульсном режиме необходимо облучать всю рабочую поверхность входного окна фотоэлемента.
Поверхность входного окна фотоэлемента должна быть расположена под углом 90±3* к направлению падении излучения, если иное не оговорено в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
1.5. Перед измерением параметров фотоэлементы должны бшь ьыдержавы в течение времен» н в условиях, указанных в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
1. АППАРАТУРА
2.1. Светонепроницаемая камера
2.1.1. Светонепроницаемая камера должна обеспечивать полную защиту фотоэлементов от внешних источников излучения, а также от воздействия магнитных, электрических полей н проникающей радиации в том случае, если они превышают естественный фон.
2.1.2. Светонепроницаемая камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы (испытательной установки).
2.1.3. В качестве изоляционного материала для проводных изоляторов не следует применять фторопласт и другие материалы с большим коэффициентом пропускания без специальной свето-эащиты.
2.1.4. Конструкция камеры должна исключать появление отражений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.
2.2. Источники излучения
2.2.1. При измерении параметров фотоэлементов следует применять источники излучения, указанные в стандартах на методы измерения конкретных параметров.
2.3. Источники питания фотоэлементов
2.3.1. В качестве источников питания фотоэлементов должны применяться источники постоянного напряжения с нестабильностью выходного напряжения не более 1% при изменении напряжения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение времени, необходимом для проведения измерения, не более 1%.
Напряжение на выходе источника питания должно регулироваться а пределах, необходимых для измерения конкретного пара метра фотоэлемента. 4