Сопоставление оцениваемого образца с базовыми

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми можно провести, используя дифференциальный метод, путем расчета относительных показателей сопоставимости qi, вычисляемым по формуле (1):

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми - student2.ru , (1)

где Pi – значение показателя оцениваемого образца; Pib – значение показателя базового образца.

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми - student2.ru Рис. 8. Формы для определения технического уровня и тенденций развития объекта техники

Если значения всех показателей qi≥1, то технический уровень объекта соответствует уровню базы сравнения или превышает дан ный уровень. При этом если базовый образец отражает высшие мировые достижения, то можно сделать вывод о соответствии или превышении мирового уровня.

Если значения всех показателей qi<1, то технический уровень объекта ниже уровня базы сравнения. При этом если базовый образец отражает высшие мировые достижения, то можно сделать вывод о том, что объект оценки уступает мировому уровню (ниже мирового уровня).

Однако часто возникают ситуации, когда исследуемый объект оказывается лучше базы сравнения по одним показателям и хуже – по другим, вследствие чего дифференциальный метод оценки не позволяет сделать однозначный вывод о техническом уровне объекта. В этом случае используется метод, основанный на расчете обобщенного показателя технического уровня КТУ, определяемого по формуле (2):

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми - student2.ru , (2)

где Кi – коэффициент весомости i-го оценочного показателя; qi – относительный показатель сопоставимости i-го оценочного показателя.

Если KТУ≥1, то технический уровень оцениваемой продукции соответствует мировому уровню или превышает его. Если KТУ<1, то технический уровень оцениваемой продукции уступает мировому уровню.

Для определения Кi необходимо выполнить следующее:

– построить кумулятивные динамические ряды по каждому из показателей;

– построить графики изобретательской активности по каждому из показателей на основе кумулятивных динамических рядов;

– определить Кi на основе построенных графиков: 1) выделить участки графиков, соответствующие исследуемому промежутку времени (этот промежуток принимается равным среднему периоду обновления продукции, как правило, 3-5 лет); 2) к средним точкам этих участков провести касательные и определить тангенс угла наклона каждой касательной; 3) рассчитать Кi: значение Кi принимается пропорциональным тангенсу угла наклона касательной; с учетом того, что ΣКi=1, коэффициент весомости i-го показателя определяется по формуле (3):

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми - student2.ru , (3)

где tgαi – тангенс угла наклона касательной к графику изобретательской активности по i-му показателю; Σtgαi – сумма тангенсов углов наклона касательных к графикам изобретательской активности по всем показателям.

На основе анализа графиков изобретательской активности можно составить так называемый «профиль потребностей», который представляет собой перечень показателей продукции с указанием соответствующих им коэффициентов весомости. Анализ «профиля потребностей» позволяет сделать вывод о том, на улучшение каких показателей следует обратить внимание при разработке новой продукции с целью обеспечения ее конкурентоспособности на рынке. Пример построения «профиля потребностей» представлен на рис. 9.

Сопоставление оцениваемого образца с базовыми - student2.ru

Рис. 9. Построение «профиля потребностей»

Наши рекомендации