Индицирование дифрактограммы

1. На дифрактограмме определить масштаб записи дифракционной картины по имеющимся меткам и соответствующим этим меткам значениям углов . Для этого необходимо измерить миллиметровой линейкой расстояние между двумя метками 2 и 2 и определить величину/см. рис.4/ ,

2. Рассчитать с помощью полученного значения масштаба и измеренных расстояний от какой-либо метки 2 до первых 5-6 максимумов дифракционной картины /указаны чертой на дифрактограмме/ значения соответствующих углов 2 : .

3. Вычислить углы , затем sin и .

4.Рассчитать о помощью формулы (6) ряд чисел , а затем по табл.1 определить тип кристаллической решетки, величину и индексы интерференции первого максимума .

5. Зная величину , рассчитать индексы интерференции , , всех исследованных семейств плоскостей.

6. Используя полученные значения углов и данное преподавателем значение длины волны рентгеновских лучей с помощью формулы (4), рассчитать межплоскостные значения .

7. Полученные межплоскостные расстояния использовать для расчета параметра элементарной ячейки (формула 5).

8. Построить график зависимости .

9. Оценить относительную и абсолютную погрешности определения параметра в зависимости от угла рассеяния.

10. С помощью данных, приведенных в табл. 2 определить, какое вещество исследовано.

Данные наблюдений и вычислений рекомендуется занести в табл. 3.

Таблица 3

Расстояние между угловыми метками					sin				,	,