Подготовка прибора к измерению

(Настройка прибора)

Перед измерением образцов двойной микроскоп устанавливается в следующем порядке:

1. После установки держателя тубусов 4 па кронштейне 3 проверяемая деталь помещается на столик микроскопа так, чтобы контролируемая поверхность была параллельна плоскости столика (с точностью до ~1^о), а следы обработки были параллельны плоскости, проходящей через оси микроскопов, то есть перпендикулярны изображению щели.

2. С помощью гайки 12 кронштейн 3, несущий микроскопы, устанавливается по высоте на расстоянии 10 – 15 мм от поверхности детали до оправ объективов и закрепляется винтом 13.

3. Измеряемая поверхность освещается посторонним светом, например от настольной лампы. Вращением барашков грубой подачи 14 и микрометренного механизма 15наблюдательный микроскоп фокусируется таким образом, чтобы резко изображенный участок поверхности оказался в середине поля зрения.

4. Щель проектирующего микроскопа освещается лампочкой 9. Изображение щели винтом 20 приводится в центр поля зрения наблюдательного микроскопа и посредством гайки 21 фокусируется на измеряемую поверхность. Резкий край изображения щели винтом 20 совмещается с участком резкого изображения поверхности, находящимся в центре поля зрения (вторая длинная граница щели при работе с сильными объективами видна размытой). Если при этом нарушается фокусировка изображения щели, то она восстанавливается с помощью гайки 21, после чего снова винтом 20 резкий край щели точно совмещается с участком резкого изображения поверхности.

Вид поля зрения правильно установленного двойного микроскопа приведен на фотографиях рис. 5.2.

Рис. 5.2

5. Винтовой окулярный микрометр 11 поворачивается так, чтобы одна из нитей перекрестия была ориентирована параллельно изображению щели, и закрепляется в этом положении винтом 22. При этом направление передвижения нитей составляет со щелью угол 45°.

Вслед затем можно переходить к измерению высоты неровностей профиля поверхностей.

Профилограф-профилометр

Принцип действия профилометра основан на преобразовании колебаний алмазной иглы малого радиуса при ощупывании исследуемой поверхности в изменении сопротивления катушки индуктивности.

Профилограф-профилометр рис.5.3. состоит из электронного блока 3, измерительного столика 4, преобразователя 5, датчика 2 с алмазной иглой, станины и записывающего прибора 1.

Профилограф-профилометр модели 201 обеспечивает следующие пределы измерения: Ra –0,02-3.2 мкм для профилометра и Rz –0,02-20 мкм для профилографа. Отсечки шага 0.08; 0.25; 0.8 и 2.5 мм.

По полученной профилограмме можно определить все параметры шероховатости.

Рис.5.3. Профилограф-профилометр

6.ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ.

6.1. Оценка шероховатости по эталонам. Рабочие эталоны шероховатости поверхности представляют собой комплекты металлических образцов – брусков с плоской или цилиндрической (наружной или внутренней) рабочей поверхностью, обработанной различными способами.

При выборе образцов для контроля шероховатости поверхности необходимо иметь ввиду, что:

1. образец должен быть выполнен из того же материала, что и контролируемая деталь;

2. вид поверхности эталона и контролируемой детали должны быть одинаковыми;

3. вид обработки должен быть одинаковым. При оценке сравнивают визуально шероховатость поверхностей образца и контролируемой детали. Затем по выбранному образцу устанавливают значение параметров шероховатости.

Оценка шероховатости на двойном микроскопе Линника (МИС-11).

На двойном микроскопе МИС-11 измеряют параметры шероховатости R_z, R_max, S и S_m . Пределы измерения R_z и R_max - 0,8 – 80 мкм, в зависимости от сменных объективов. Увеличение объективов равно 34,8; 17,9; 10,54 и 5,85^х .