Поляризационно-оптический метод исследования напряжений

Поляризационно-оптический метод определения напряженного состояния деталей машин и строительных конструкций на прозрачных моделях получил широкое распространение в последнее время и известен как метод фотоупругости. Большинство прозрачных изотропных аморфных материалов (стекло, целлулоид, желатин, пластмассы) под действием нагрузки становится оптически анизотропными.

Анизотропными называются такие вещества, в которых физические параметры зависят от направления. Электрически анизотропными называются вещества, в которых диэлектрическая проницаемость зависит от направления.

Из электромагнитной природы света по закону Максвелла фазовая скорость электромагнитных волн

.

Для большинства прозрачных сред магнитная проницаемость μ = 1, поэтому приблизительно

, (2.2)

с – скорость света в вакууме, – скорость света в диэлектрике.

Оптически анизотропия среды проявляется в различной по разным направлениям способностью среды реагировать на действие падающего света. Под действием поля световой волны происходит смещение электрических зарядов атомов вещества. Для оптически анизотропных сред величина смещения в поле данной напряженности зависит от направления электрического вектора световой волны. То есть диэлектрическая проницаемость, а значит и показатель преломления среды, различны для разных направлений. Следовательно, и скорость света зависит от направления распространения световой волны и плоскости ее поляризации. При переходе луча из среды изотропной в среду анизотропную наблюдается так называемое двойное лучепреломление. В результате преломления в анизотропной среде распространяется не один, а два луча – обыкновенный (о) и необыкновенный (е), которые линейно поляризованы во взаимноперпендикулярных плоскостях и распространяются с различными скоростями.

Под действием нагрузки (деформации) большинство изотропных материалов становятся оптически анизотропными, возникает искусственное двойное лучепреломление при деформации. При этом направления главных осей эллипсоида диэлектрической проницаемости материала совпадают с направлениями главных осей эллипсоида напряжений. В случае одностороннего сжатия или растяжения, например вдоль ОО ^/ (рис.2.5), это направление становится выделенным и играет роль оптической оси. Оптические свойства деформированного таким образом тела соответствуют свойствам одноосного кристалла. Разность показателей преломления обыкновенного и необыкновенного лучей является мерой возникшей анизотропии. Иными словами скорость распространения в образце обыкновенного луча (о) не зависит от механического напряжения, а скорость распространения необыкновенного луча (е) зависит от механического напряжения. Поэтому если даже о и е лучи пройдут в образце одинаковый геометрический путь, их оптические пути будут различны (т.е. , где l – геометрическая длина пути). В результате этого, после прохождения образца между о и е лучами появляется оптическая разность хода .

Поместим исследуемый прозрачный образец между скрещенными поляризатором П и анализатором А (рис.2.5). При отсутствии деформации в образце свет, прошедший через поляризатор, согласно закону Малюса полностью задерживается анализатором.

Если же образец подвергнуть сжатию, например, вдоль оси ОО ^/, составляющей некоторый угол α с направлением плоскости пропускания поляризатора и анализатора, то линейно поляризованный свет испытает в образце двойное лучепреломление.

Величина амплитуд обыкновенной а_о и а_е и необыкновенной волн определится проекциями вектора а_I плоскополяризованного света, прошедшего через поляризатор П, на взаимно перпендикулярные направления. Эти направления определяют положение плоскостей колебаний обыкновенной и необыкновенной волн в исследуемом напряженном образце. Анализатор А сводит оба колебания к одной плоскости (амплитуда а_2о и а_2е). Оба колебания, возникшие из одного линейнополяризованного колебания а_I, когерентны и поэтому могут интерферировать.

При нормальном падении света на параллельную оптической оси ОО ^/ грань напряженного образца, обыкновенный и необыкновенный лучи распространяются не разделяясь, но с различными скоростями и . В связи с этим между ними возникает разность хода

. (2.3)

Разность фаз колебаний обыкновенного и необыкновенного лучей, вышедших из напряженного образца

, (2.4)

где d – путь, пройденный лучами в напряженном образце (толщина образца).

В результате сложения двух лучей, поляризованных во взаимно перпендикулярных направлениях, получается эллиптически поляризованный свет, в котором конец вектора световой волны описывает эллипс с той же частотой, с которой совершаются исходные колебания. По выходе из анализатора пучок света не гасится и на экране наблюдается интерференционная картина.

. (2.5)

Опыт показывает, что эта же разность пропорциональна напряжению σ в данной точке тела

. (2.6)

Разность фаз, которую приобретут обыкновенный и необыкновенный лучи, проходя через толщину d образца

. (2.7)

Если ввести постоянную , то

, (2.8)

где С – оптическая постоянная.

Местам одинаковых напряжений в образце соответствует одинаковый сдвиг фаз колебаний обыкновенного и необыкновенного лучей.

Так как зависит от λ, просветленное после деформации поле окрашено – оно будет состоять из цветных полос – результат интерференции поляризованных лучей. Каждая полоса – изохрома будет соответствовать одинаково деформированным местам тела. Следовательно, по характеру расположения полос, можно судить о распределении напряжений внутри образца. При вращении анализатора окраска меняется. Результат интерференции отчетливее всего наблюдается при α = 45°.

Опыт показывает, что два луча – обыкновенный (о) и необыкновенный (е), полученные после прохождения через напряженный образец естественного света не дают интерференции. Объясняется это тем, что в естественном свете колебания, которые происходят в разных плоскостях, испущены различными атомами, следовательно, они не связаны друг с другом, не имеют постоянную разность фаз, и значит они не когерентны.

Обыкновенный (о) и необыкновенный (е) лучи, полученные из одного плоскополяризованного луча можно привести с помощью анализатора к одной плоскости, лучи будут интерферировать.

Интерференция поляризованных лучей лежит в основе метода фотоупругости, который состоит в том, что из прозрачных изотропных материалов (например, оргстекла) изготовляют модели различных непрозрачных деталей и испытывают их описанным методом. Это позволяет решать ряд важных вопросов, связанных с наличием и распределением деформаций и напряжений в моделируемых деталях.

Описание установки

Схема установки представлена на рис.3.1.

Рис.3.1

На оптической скамье 1 установлены осветлитель 2 с конденсором 3. Параллельный пучок света падает на поляризатор 4, затем на исследуемый образец 5 под винтовым прессом (при проверке закон Малюса образец убирается). Анализатор 6 снабжен круговой шкалой 7, позволяющей замерить угол поворота. Объектив 8 служит для фокусирования светового потока на рабочую поверхность фотоэлемента 10 (при проверке закона Малюса) или для получения изображения напряженной балки 5 на экране 9. Фототок регистрируется микроамперметром 11. Так как сила фототока і пропорциональна интенсивности падающего на фотоэлемент света J, то находя зависимость і от угла поворота анализатора, можно проверить также зависимость J от угла поворота.