Змістовий модуль 3. Спектральні методи дослідження

3.1. Емісійний спектральний аналіз базується на дослідженні:
a) спектрів випромінювання;	b) спектрів поглинання;
c) спектрів розсіювання;	d) спектрів збудження.
3.2. Атомно-абсорбційний спектральний аналіз базується на дослідженні:
a) спектрів поглинання;	b) спектрів випромінювання;
c) спектрів розсіювання;	d) спектрів збудження.
3.3. Спектр випромінювання – це випромінювання:
a) впорядковане за довжинами хвиль світлових променів;	b) впорядковане за напрямком поширення світлових променів;
c) впорядковане за ступенем поляризації світлових променів;	d) впорядковане за інтенсивністю світлових променів.
3.4. Лінійчасті спектри випромінювання характерні:
a) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;	b) для розжарених твердих тіл;
c) для розжарених рідин;	d) для розжарених у газоподібному стані молекул.
3.5. Смугасті спектри випромінювання характерні:
a) для розжарених у газоподібному стані молекул;	b) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;
c) для пучка елементарних частинок;	d) для розжарених рідин та твердих тіл.
3.6. Суцільні (неперервні) спектри випромінювання характерні:
a) для розжарених рідин та твердих тіл;	b) для розжарених у газоподібному стані атомів та іонів;
c) для пучка елементарних частинок;	d) для розжарених у газоподібному стані молекул.
3.7. В спектрографах емісійні спектри реєструють:
a) фотографічно;	b) візуально;
c) фотоелектрично;	d) електронно.
3.8. В спектрометрах емісійні спектри реєструють:
a) фотоелектрично;	b) фотографічно;
c) візуально;	d) електронно.
3.9. В спектроскопах емісійні спектри реєструють:
a) візуально;	b) фотографічно;
c) фотоелектрично;	d) електронно.
3.10. При якісному спектральному аналізі ідентифікацію речовин проводять:
a) за розміщенням наявних характерних ліній в спектрі;	b) за інтенсивністю наявних ліній в спектрі;
c) за кількістю наявних ліній в спектрі;	d) за формою наявних характерних ліній в спектрі.
3.11. Кількісний спектральний аналіз базується:
a) на залежності між інтенсивністю аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;	b) на залежності між частотою аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;
c) на залежності між довжиною хвилі аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі;	d) на залежності між розміщенням аналітичної лінії елементу в спектрі та його концентрацією в пробі.
3.12. Інтенсивність спектральної лінії при емісійному випромінюванні описується формулою:
a) ;	b) ;
c) ;	d) .
3.13. Відносну інтенсивність спектральної лінії при емісійному аналізі обчислюють за формулою:
a) ;	b) ;
c) ;	d) .
3.14. При атомно-абсорбційному аналізі оптичну густину обчислюють за формулою . Під І₀ розуміють:
a) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється до введення проби в атомізатор;	b) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється після введення проби в атомізатор;
c) інтенсивність світлового потоку, який направляють в атомізатор;	d) інтенсивність світлового потоку, який не розкладений в спектр.
3.15. При атомно-абсорбційному аналізі оптичну густину обчислюють за формулою . Під І розуміють:
a) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється після введення проби в атомізатор;	b) інтенсивність аналітичної лінії, яка реєструється до введення проби в атомізатор;
c) інтенсивність світлового потоку, який направляють в атомізатор;	d) інтенсивність світлового потоку, який не розкладений в спектр.
3.16. Метод мас-спектрального аналізу базується на розділенні заряджених частинок, які рухаються:
a) в електричному та магнітному полях;	b) в магнітному полі;
c) в електричному полі;	d) рухаються вільно.
3.17. В мас-спектрометрі на рухому заряджену частинку діють постійним магнітним полем, вектор напруженості якого:
a) перпендикулярний до руху частинки;	b) співпадає з напрямком руху частинки;
c) є протилежним до напрямку руху частинки;	d) радіальний до руху частинки.
3.18. На заряджену частинку, яка рухається в мас-спектрометрі із швидкістю v діють постійним магнітним полем вектор напруженості якого є перпендикулярний до руху частинки. Радіус відхилення такої частинки від напрямку її руху буде описуватися формулою:
a) ;	b) ;
c) ;	d) .
3.19. Маса частинки, яка попадає в детектор мас-спектрометра Бейнбріджа описується формулою:
a) ;	b) ;
c) ;	d) .
3.20. Мас-спектрограма дає можливість визначити в пробі вміст ізотопу, який пропорційний:
a) висоті піку;	b) ширині піку;
c) площі піку;	d) відношенню висоти піку до його ширини.
3.21. За даними мас-спектрограми, процентний вміст ізотопу визначають за формулою:
a) ;	b) ;
c) ;	d) .
3.22. Методами ІЧ спектроскопії вивчають:
a) коливальні спектри молекул;	b) коливальні спектри атомів;
c) коливальні спектри електронів;	d) коливальні спектри атомних ядер.
3.23. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 400 нм до λ = 600 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
a) в діапазоні видимого випромінювання;	b) в діапазоні ІЧ-випромінювання;
c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;	d) в діапазоні УФ-випромінювання.
3.24. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 12·10³ мкм до λ = 22·10³ мкм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
a) в діапазоні ІЧ-випромінювання;	b) в діапазоні видимого випромінювання;
c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;	d) в діапазоні УФ-випромінювання.
3.25. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 120 до λ = 280 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
a) в діапазоні УФ-випромінювання;	b) в діапазоні видимого випромінювання;
c) в діапазоні рентгенівського випромінювання;	d) в діапазоні ІЧ-випромінювання.
3.26. Досліджували поглинання зразком електромагнітних коливань з довжиною хвилі від λ = 0,2 нм до λ = 8,2 нм. В якому діапазоні хвиль проводили дослідження?
a) в діапазоні рентгенівського випромінювання;	b) в діапазоні видимого випромінювання;
c) в діапазоні ІЧ-випромінювання;	d) в діапазоні УФ-випромінювання.
3.27. При поглинанні ІЧ-променів речовиною, в її молекулах активізуються валентні коливання, які супроводжуються:
a) зміною довжини хімічних зв’язків між атомами;	b) зміною величини валентних кутів між атомами;
c) обертанням атомів навколо осі зв’язку;	d) розривом хімічного зв’язку.
3.28. При поглинанні ІЧ-променів речовиною, в її молекулах активізуються деформаційні коливання, які супроводжуються:
a) зміною величини валентних кутів між атомами;	b) зміною довжини хімічних зв’язків між атомами;
c) обертанням атомів навколо осі зв’язку;	d) розривом хімічного зв’язку.
3.29. Характеристичними ІЧ-смугами поглинання називають:
a) смуги, які відповідають певним функціональним групам;	b) смуги, які мають однакову інтенсивність;
c) смуги, які мають однакову форму контуру;	d) смуги, які визначаються молекулярною масою речовини.
3.30. Ідентифікацію речовин в ІЧ-спектроскопії проводять:
a) за розміщенням характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі;	b) за інтенсивністю характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі;
c) за кількістю смуг поглинання в ІЧ-спектрі;	d) за формою характеристичних смуг поглинання в ІЧ-спектрі.
3.31. Дифракційна решітка у спектрофотометрі служить:
a) для розкладання світлового пучка в спектр;	b) для відбивання світлового пучка;
c) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;	d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
3.32. Фотометричний клин у спектрофотометрі служить:
a) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;	b) для відбивання світлового пучка;
c) для розкладання світлового пучка в спектр;	d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
3.33. Фотоелектронний помножувач у спектрофотометрі служить:
a) для реєстрації інтенсивності світлового пучка;	b) для відбивання світлового пучка;
c) для розкладання світлового пучка в спектр;	d) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності.
3.34. Призма у спектрофотометрі служить:
a) для розкладання світлового пучка в спектр;	b) для відбивання світлового пучка;
c) для пропускання світлового пучка певної інтенсивності;	d) для реєстрації інтенсивності світлового пучка.
3.35. Лінзи для ІЧ-спектрометрів виготовляють:
a) із цезій броміду;	b) із кварцового скла;
c) із натрієвого скла;	d) із натрій сульфату.
3.36. Призми для ІЧ-спектрометрів виготовляють:
a) із цезій броміду;	b) із кварцового скла;
c) із натрієвого скла;	d) із натрій сульфату.
3.37. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення I₀ для даної характеристичної смуги.
a) 76%;	b) 12%;
c) 84%;	d) 62%.
3.38. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення I для даної характеристичної смуги.
a) 12%;	b) 76%;
c) 84%;	d) 62%.
3.39. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для даної характеристичної смуги.
a) 2880 см^-1;	b) 2750 см^-1;
c) 2970 см^-1;	d) 2800 см^-1.
3.40. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення I₀ для даної характеристичної смуги.
a) 78%;	b) 62%;
c) 12%;	d) 84%.
3.41. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення I для даної характеристичної смуги.
a) 12%;	b) 62%;
c) 78%;	d) 84%.
3.42. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I₀ для першої характеристичної смуги.
a) 84%;	b) 78%;
c) 34%;	d) 86%.
3.43. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I для першої характеристичної смуги.
a) 34%;	b) 78%;
c) 84%;	d) 86%.
3.44. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для першої характеристичної смуги.
a) 3140 см^-1;	b) 3035 см^-1;
c) 2950 см^-1;	d) 3260 см^-1.
3.45. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для другої характеристичної смуги.
a) 3035 см^-1;	b) 2950 см^-1;
c) 3140 см^-1;	d) 3260 см^-1.
3.46. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення І₀ для другої характеристичної смуги.
a) 80%;	b) 78%;
c) 26%;	d) 86%.
3.47. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення І для другої характеристичної смуги.
a) 26%;	b) 78%;
c) 80%;	d) 86%.
3.48. На малюнку показана одна із характеристичних смуг ІЧ-спектру з визначеною для неї базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для даної характеристичної смуги.
a) 2820 см^-1;	b) 2760 см^-1;
c) 2850 см^-1;	d) 2950 см^-1.
3.49. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I₀ для першої характеристичної смуги.
a) 80%;	b) 68%;
c) 26%;	d) 86%.
3.50. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I для першої характеристичної смуги.
a) 26%;	b) 68%;
c) 80%;	d) 86%.
3.51. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I₀ для другої характеристичної смуги.
a) 84%;	b) 68%;
c) 34%;	d) 86%.
3.52. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення I для другої характеристичної смуги.
a) 34%;	b) 68%;
c) 84%;	d) 86%.
3.53. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для другої характеристичної смуги.
a) 2960 см^-1;	b) 2840 см^-1;
c) 3065 см^-1;	d) 3140 см^-1.
3.54. На малюнку показані дві характеристичні смуги ІЧ-спектру, які частково перекриваються, з визначеною для них спільною базовою лінією a - b. Знайти значення хвильового числа для першої характеристичної смуги.
a) 3065 см^-1;	b) 2960 см^-1;
c) 2840 см^-1;	d) 3140 см^-1.