V1: электромагнитные колебания

I:

S: Электромагнитные колебания

-: Возникают под действием постоянного источника энергии

+: Возникают в контуре без участия внешних факторов за счет первоначально накопленной энергии

-: Совершаются в замкнутых системах за счет флуктуаций энергии

-: Возникают вокруг любых проводников с током

-: Возникают при освещении металла

I:

S: Электромагнитные колебания в вакууме распространяются со скоростью

-: 340 м/с

-: 1000 м/с

-: 3000 км/с

+:300000 км/с

-: 3·10⁶ км/с

I:

S: Согласно теории Максвелла скорость распространения переменного магнитного поля может быть рассчитана с помощью выражения

-:

-:

-:

-:

+:

I:

S: Электромагнитной природой обладает

-: Звук

-: Ультразвук

+: Свет

-: Процесс диффузии

-: Явление термоэлектричества.

I:

S: Между длиной волны λ, периодом Т и скоростью v распространения электромагнитной волны установлено соотношение

-:

+:

-:

-:

-:

I:

S: В состав закрытого колебательного контура входят

-: Источник тока и катушка индуктивности

-: Конденсатор и источник тока

+: Конденсатор и катушка индуктивности

-: Конденсатор, источник тока и реостат

-: Источник тока, конденсатор и катушка индуктивности

I:

S: Частота колебаний в контуре может быть рассчитана с использованием формулы

-: Максвелла

+:Томсона

-: Эйнштейна

-: Кулона

-: Ампера.

I:

S: Период электромагнитных колебаний в контуре определяется выражением

-:

-:

-:

+:

-:

I:

S: Интенсивность электромагнитной волны

-: Пропорциональна ее частоте;

-: Пропорциональна ее периоду;

-: Обратно пропорциональна частоте;

+: Пропорциональна квадрату ее частоты;

-:5. Не зависит от ее частоты.

I:

S: Колебательный контур применяется в

-: Трансформаторах напряжения

-: Конструкции полупроводникового диода

+:Конструкции генераторов переменного тока

-: Лампах накаливания

-: Реостатах.

I:

S: Прохождение переменного электрического тока не сопровождается потерей энергии в

-: Проводнике;

-: Электролите;

-: Лампе накаливания;

+: Конденсаторе;

-: Трансформаторе.

I:

S: Интенсивность электромагнитной волны

-: Пропорциональна ее частоте;

-: Пропорциональна ее периоду;

-: Обратно пропорциональна частоте;

+:Пропорциональна квадрату ее частоты;

-: Не зависит от ее частоты.

V1: ПЕРЕМЕННЫЙ ТОК

I:

S: Сила переменного тока изменяется по закону

+:

-: ;

-:

-:

-:

I:

S: Для расчета полного сопротивления цепи переменного тока следует воспользоваться формулой

-: Z=R + R_L + R_C

-:

+:

-:

-:

I:

S: Для расчета индуктивного сопротивления справедливо выражение

-:

-:

-:

+:

-:

I:

S: Для расчета емкостного сопротивления следует воспользоваться выражением

-:

+:

-:

-:

-:

I:

S: Эффективное I_э и амплитудное I_о значения переменного тока связаны выражением

-:

-:

+:

-:

-: .

I:

S: В тканях человека наблюдается наличие

-: Только активного сопротивления

-: Только емкостного сопротивления

-: Только индуктивного сопротивления

-: И активного и индуктивного сопротивления

+: И активного и емкостного сопротивления

I:

S: Воздействие на человека электрического тока поражающего действия может вызвать

-: Разрушение биомакромолекул

+: Фибрилляцию желудочков сердца

-: Диссоциацию молекул воды на ионы

-: Лишение клеток способности к делению

-: Нарушение гомеостаза

I:

S: К реактивному типу сопротивлений можно отнести

+:Индуктивное сопротивление

-: Омическое сопротивление

-: Внутреннее сопротивление источника тока

-: Внешнее сопротивление цепи

-: Емкостное сопротивление

I:

S: Прохождение переменного электрического тока не сопровождается потерей энергии в

-: Проводнике

-: Электролите

-: Лампе накаливания

+. Конденсаторе

-: Трансформаторе

V1: ДИФРАКЦИЯ СВЕТА

I:

S: Дифракцией света называется явление

-: При котором электрическая составляющая светового вектора колеблется в одной плоскости

+: Отклонения света от прямолинейного распространения в среде с резкими неоднородностями

-: Наложения световых пучков от когерентных источников, при котором получается устойчивая картина их взаимного усиления или ослабления

-: Освобождения электронов от связей с атомами и молекулами вещества под воздействием видимого света

-: Поглощения света в мутных средах

I:

S: В явлении дифракции обнаруживаются

-: Магнитные свойства света

-: Электрические свойства света

-: Прямолинейность распространения света

-: Корпускулярные свойства света

+: Волновые свойства света

I:

S: Дифракционный максимум от щели имеет место при условии, когда

+: Пучки лучей дифрагируют под углами, соответствующими нечетному числу зон Френеля

-: Пучки лучей дифрагируют под углами, соответствующими четному числу зон Френеля

-: Разность хода лучей равна нечетному числу полуволн

-: Разность хода лучей равна четному числу полуволн

-: Разность хода лучей равна целому числу волн

I:

S: Дифракционный минимум от щели имеет место при условии, когда

-: Пучки лучей дифрагируют под углами, соответствующими нечетному числу зон Френеля

+: Пучки лучей дифрагируют под углами, соответствующими четному числу зон Френеля

-: Разность хода лучей равна нечетному числу полуволн

-: Разность хода лучей равна четному числу полуволн

-: Разность хода лучей равна целому числу волн

I:

S: Дифракционный максимум наблюдается при разности хода световых лучей

-:

+:

-:

-:

-:

I:

S: Дифракционный минимум наблюдается при разности хода световых лучей

-:

-:

+:

-:

-:

I:

S: При дифракции света от одной щели дифракционные максимумы наблюдаются под углами, для которых

+:

-:

-:

-:

-:

I:

S: При дифракции света от одной щели дифракционные минимумы наблюдаются под углами, для которых

-:

-:

-:

+:

-:

I:

S: Дифракционная решетка представляет собой

-: Тонкую фольгу с большим числом квадратных ячеек

-: Мелкоячеистую проволочную сетку

+: Совокупность большого числа узких параллельных щелей, расположенных близко друг от друга

-: Плоский экран с рядом круглых отверстий

-: Плоский экран с рядом квадратных отверстий

I:

S: Для дифракционной решетки справедливо соотношение

-:

-:

+:

-:

-:

I:

S: Дифракционная решетка используется для:

-: Определения концентрации растворов оптически активных веществ

+: Точного измерения длины световых волн

-: Измерения толщины прозрачных микрообъектов

-: Усиления яркости изображений

-: Получения увеличенного изображения мелких объектов

I:

S: Явление дифракции используется

-: В концентрационной колориметрии

-: В ультрамикроскопии

-: В голографии

+: В рентгеноструктурном анализе

-: В рефрактометрии

I:

S: Гипотеза о том, что движущиеся микрочастицы обладают волновыми свойствами впервые была высказана

+: Де-Бройлем

-: Эйнштейном

-: Бором

-: Планком

-: Шредингером

I:

S: Движение микрочастицы сопровождается распространением волны, длина которой равна

-:

-:

-:

-:

+:

I:

S: Первое экспериментальное подтверждение гипотезы о том, что движущиеся микрочастицы обладают волновыми свойствами, было дано

-: Кулоном

-: Планком

-: Эйнштейном

+: Дэвиссоном и Джермером

-: Томсоном и Тартаковским

I:

S: Волновые свойства частиц были обнаружены в опытах по

-: Отражению микрочастиц от границы раздела сред

-: Поглощению микрочастиц в мутных средах

+: Дифракции электронов

-: Поляризации протонов

-: Интерференции альфа-частиц