Исследование электромагнитного поля цилиндрической катушки с переменным током и электромагнитного экранирования
Выполнил студенты группы ЗЭБ – 232
Шеверов В.В
Омск 2014
Цель работы:
1. Изучение магнитного поля цилиндрической катушки с переменным током и электромагнитного экранирования поля катушки с использованием двух типов цилиндрических экранов (отрезок медной трубы µ = µ0 = 4π∙10-7Гн/м, электропроводность γ = 5,7 ∙ 107 1/Ом∙м), отрезок стальной трубы сталь 3, µ >> µ0, γ = 0,8 ∙ 107 1/Ом∙м), вставляемых внутрь цилиндрической катушки, создающей первичное поле;
2. Углубление понимания закона полного тока;
3. Приобретение навыков работы с современными средствами измерения магнитного поля.
4. Исследование экранирования магнитного поля в комплексе программ ELCUT.
Домашнее задание
Ознакомление с теоретической частью работы.
На основании закона Био-Савара-Лапласа модуль вектора напряженности магнитного поля Н на оси цилиндрической однослойной катушки диаметром dК и длинной l, по которой протекает ток i, определяется выражением:
, (1)
где ; ,
α1 и α2 – значения углов между осью катушки и радиус-векторами, направленными от крайних витков катушки к точке, в которой определяется значение напряженности магнитного поля (рис. 1), dкср- средний диаметр катушки, Х - расстояние от середины катушки до точек, в которых определяется напряженность магнитного поля Н.
Рис. 1
Выражение (1) применяется в данной работе для расчета напряженности магнитного поля на осевой линии катушки в различных точках, лежащих как внутри катушки, так и за ее пределами на осевой линии.
Численный пример расчета напряженности магнитного поля на оси катушки
Пусть катушка намотана в один слой (рис. 2). Число витков W = 200 длина катушки l = 120 мм = 0,12 м; средний диаметр катушки dк = 40 мм = 0,04 м; ω = 2πf; f = 50 Гц; Im = 1 А.
Рассчитаем значение напряженности магнитного поля на оси катушки в точках Х = 0, 20 мм, 40 мм, 60 мм, 80 мм.
Рис. 2
Таблица 1
Таблица данных по расчету напряженности магнитного поля
на оси этой катушки
Х, мм | |||||
cos α1 | 0,95 | 0,97 | 0,98 | 0,986 | 0,98996 |
cos α2 | -0,95 | -0,89 | -0,71 | 0,71 | |
Hт, А/М |
На графике (рис. 3) показана зависимость напряженности магнитного поля на оси этой катушки от координаты Х по данным таблицы 1.
Рис. 3 Распределение напряженности магнитного поля по оси катушки
(dкср = 40 мм, l = 120 мм, Iт = 1 А)
Из расчетных данных для этой катушки, напряженность магнитного поля на оси незначительно изменяется в диапазоне -40мм +40 мм, т.е. на большей части длины катушки в ее центральной части поле практически однородно.
Электромагнитное экранирование. Коэффициент экранирования, расчет магнитного поля в экранированной области
Электромагнитные экраны (рис. 4) широко применяются для защиты от внешних электромагнитных полей (ЭМП) различного электронного оборудования и электротехнических устройств, которые стремятся расположить в экранированном пространстве. Для защиты от действия переменного электромагнитного поля высокой частоты обычно применяют немагнитные электропроводящие материалы (медь, алюминий и др.), обладающие высокой электропроводностью и магнитной проницаемостью близкой к магнитной проницаемости воздуха (µ0). Для экранирования низкочастотных электромагнитных полей и экранирования действия постоянных магнитных полей часто применяют ферромагнитные электропроводящие материалы.
Рис. 4
В лабораторной установке при исследовании электромагнитного экранирования используется два типа цилиндрических экранов:
– медный экран (d1 = 20 мм, d2 = 7,0 мм, µ µ0 = 4π∙10-7Гн/м,
γ = 5,7 ∙ 107 1/Ом∙м, длина экрана lЭ1 = 173 мм);
– стальной экран (d1 = 22 мм, d2 = 16 мм, µ 1000µ0,
γ = 0,8 ∙ 107 1/Ом∙м, длина экрана lЭ2 = 170 мм);
При расчете коэффициента экранирования S = Hi / Ha или напряженности магнитного поля во внутренней полости Hi = S ∙ Ha полагаем, что длина экрана достаточно велика, т.е. длина экрана существенно больше диаметра его, а внешнее поле Ha однородно и имеет только осевую составляющую, как показано на рис. 4. При достаточно большой длине экрана и катушки можно пренебречь краевым эффектом и считать, что поле внутри экранированной области однородно.
Для случая длинного цилиндрического экрана при воздействии однородного магнитного поля Ha комплексное значение напряженности магнитного поля в экранированном пространстве при синусоидальном токе, возбуждающем поле Ha (рис. 4) определяется выражением
, (2)
где – толщина стенки экрана;
;
;
µ = µr ∙ µ0 – абсолютная магнитная проницаемость;
µr – относительная магнитная проницаемость;
µ0 – 4π∙10-7 Гн/м.
При решении задачи проникновения поля в проводящую среду вводится понятие глубины проникновения поля . Под глубиной проникновения магнитного поля Ha в проводящую среду принято понимать расстояние от поверхности тела в глубь тела экрана, на котором внешнее поле Ha убывает в 2,73 раза.
Из (2) следует, что поле в экранированной области сильно зависит от толщины стенки экрана и частоты синусоидального тока , возбуждающего внешнее поле Ha, а также магнитной проницаемости стенок µ и электропроводности γ.
Как видно из этого выражения, чем толще стенка экрана, чем больше электропроводность и магнитная проницаемость материала стенок экрана, тем сильнее экранируется внешнее поле.
При низких частотах поверхностный эффект практически не проявляется и экран ведет себя как короткозамкнутый виток, при этом плотность кольцевого тока в нем практически равномерно распределена по толщине стенки экрана. Низкими частотами назовем частоты, при которых толщина стенки экрана d меньше Δ, т.е. Δ > d.
Частоты, при которых Δ < d, будем считать высокими, то есть на этих частотах кольцевые вихревые токи в стенке экрана вытесняются на поверхность (поверхностный эффект).
Для области низких частот получаем из (2) следующую формулу для расчета Нi
, (3)
Для области высоких частот
(4)
Из выражения (4) видно, чем больше толщина стенки экрана d, а также чем больше величины ω, µ, γ ( ), тем сильнее эффект экранирования внешнего поля Ha.
Рабочее задание
Описание лабораторного стенда и измерительного комплекса
На рис. 5 представлена электрическая схема лабораторной установки, а на рис. 6 – общий вид ее.
Рис. 5 Электрическая схема лабораторной установки
В состав электрической схемы входят:
1 – катушка, по которой протекает переменный ток i за счет действия ЭДС вторичной обмотки W2 трансформатора Т, регулировка которого осуществляется изменением сопротивления Rрег. Последовательно с катушкой включен цифровой амперметр 5 и измерительное сопротивление (Rизм = 0,1 Ом) для снятия осциллограммы тока катушки, временная форма которого совпадает с кривой напряженности магнитного поля На (или магнитной индукции Ва = µ0 ∙ На);
2 – цилиндрический экран, экранирующий внешнее поле На (Нi – напряженность магнитного поля внутри экранированной области);
3 – цифровой мультиметр, измеряющий магнитную индукцию во внутренней области экрана (при отсутствии экрана измеряет магнитную индукцию поля катушки На = Ва / µ0, где µ0 = 4π ∙ 10-7 Гн/м – магнитная проницаемость воздуха);
4 – датчик Холла, выходное напряжение которого пропорционально магнитной индукции, пронизывающей полупроводниковую пластину датчика Холла;
5 – цифровой амперметр для измерения действующего значения тока катушки (I = Im / );
6 – измерительный комплекс (виртуальный осциллограф) для записи кривой тока i и кривой индукции магнитного поля, в состав которого входят аналого-цифровой преобразователь АЦП и компьютер ПК (перед использованием комплекса необходимо ознакомиться с инструкцией).
Рис. 6. Общий вид лабораторного стенда
Результаты экспериментального исследования экранирования магнитного поля с различными экранами.
На оси катушки при отсутствии экрана измеренное значение (амплитудное значение) магнитной индукции с помощью миллитесламетра при токе I = 3 А. Среднее выпрямленное значение магнитной индукции .
Медный экран. На оси катушки , .
Коэффициент экранирования .
Стальной экран. На оси катушки ,
Коэффициент экранирования
Результаты расчета магнитного поля в комплексе программ ELCUT.
Магнитное поле с медным экраном.
Напряженность магнитного поля на середине высоты катушки с медным экраном (рис. 8).
Рис. 8
Стальной экран.
Задание в расчете основной характеристики намагничивания стали (рис. 9).
Рис. 9
Картина магнитного поля со стальным экраном (рис. 10).
Рис. 10
График напряженности магнитного поля (рис. 11) на середине высоты катушки с током.
Рис. 10.
Расчетный коэффициент экранирования с медным экраном
Расчетный коэффициент экранирования со стальным экраном .
Вывод. Расхождение результатов расчета и опыта со стальным экраном вызвано необходимостью учета в расчете комплексной магнитной проницаемости стали.