Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах

Задача 2.1

Определить динамические потери в транзисторе VT при его включении и выключении (рис. 2.1).

Схема содержит источник постоянного напряжения Е, транзистор VT, активно-индуктивную нагрузку Rн, Lн и цепь формирования траектории переключения (ЦФТП), состоящую из быстродействующего диода VD, конденсатора С, и резистора R. ЭДС источника Е = 100 В. Время включения и выключения транзистора tвкл = tвыкл = 10 мкс, статические характеристики транзистора и диода идеальны, транзистор включается и выключается с частотой f = 100 Гц и скважностью работы q = 2. Активное сопротивление нагрузки Rн = 10 Ом, а индуктивность
Lн = 1 мГн. Диод VD идеален по быстродействию (время включения и выключения диода равны нулю), емкость конденсатора С =10 мкФ, сопротивление резистора R = 0,1 Ом.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Рис. 2.1

Решение

Для определения динамических потерь необходимо определить энергию, выделяющуюся в ключе при его включении и выключении. Рассмотрим отдельно каждый из этих процессов.

Включение транзистора

При рассмотрении процессов необходимо определить начальные условия. Когда транзистор был выключен, токи транзистора и нагрузки равны нулю, к закрытому транзистору приложено напряжение источника Е, конденсатор С заряжен до того же напряжения, к диоду VD не приложено напряжение, следовательно, он закрыт. При включении транзистора напряжение на нем падает от значения, приложенного в момент включения, до нуля за время t = tвкл. Поэтому на интервале включения транзистор можно заменить источником линейно спадающего напряжения Uvt = Е(1 - t/tвкл) имеющего характеристику, показанную на рис. 2.2. При этом начинается разряд конденсатора С через включающийся транзистор и нарастание тока через нагрузку, эти процессы независимы и можно рассматривать каждый из них отдельно. Нагрузка оказывается подключенной к источнику линейно нарастающего напряжения, причем Е - Uvt = Et/tвкл. На рис. 2.3 представлена эквивалентная схема замещения. Процессы в схеме описываются уравнением Кирхгофа:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.1)

Решив это уравнение с учетом начального условия Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru , получим:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru , (2.2)

где Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru .

Упростив приведенное выражение, получим:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru . (2.3)

Как видно из (2.3), выражение для тока нагрузки содержит две составляющие - линейную и экспоненциальную.

  Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru   Рис. 2.2 Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Рис. 2.3

Теперь рассмотрим процесс разряда конденсатора через резистор R
(рис. 2.4). Запишем для полученной схемы уравнение Кирхгофа

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.4)

решив которое с учетом начального условия Uc(0) = Е, будем иметь:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru . (2.5)

Полученное выражение можно записать в виде:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.6)

где Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru .

Ток разряда конденсатора можно определить на основании дифференциальной связи между током и напряжением на конденсаторе:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru . (2.7)

Тогда с учетом (2.6) получим:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.8)

Ток транзистора на интервале включения равен сумме двух токов: тока нагрузки и тока разряда конденсатора. По окончании включения напряжение на транзисторе станет равным нулю, и законы для токов и напряжений в схеме изменятся, причем начальные условия для этих законов могут быть получены из выражений (2.3) и (2.6) путем подстановки t = tвкл.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Рис. 2.4

Выключение транзистора

Рассмотрим процесс выключения. Так как при указанных параметрах схемы постоянные времени процессов разряда конденсатора С и роста тока нагрузки много меньше половины периода работы транзистора, можно считать, что переходные процессы полностью завершатся к следующему выключению транзистора, то есть к моменту выключения транзистора конденсатор С полностью разрядится, а ток нагрузки достигнет установившегося значения. Теперь на интервале выключения транзистор следует заменить источником линейно спадающего тока, имеющего характеристику, приведенную на рис. 2.5. Поскольку за время tвыкл ток в нагрузке практически не успевает измениться (это связано с индуктивным характером нагрузки и возникновением ЭДС самоиндукции при попытке резко снизить ток), цепь нагрузки целесообразно заменить источником постоянного тока. Таким образом, при выключении транзистора на нем мгновенно повысится напряжение, и к диоду VD скачком будет приложено прямое напряжение. Так как в условии задачи было оговорено, что быстродействие диода много выше быстродействия транзистора (так обычно и бывает на практике), можно считать, что диод мгновенно откроется и процессы выключения будут определятся эквивалентной схемой замещения, представленной на рис. 2.6.



  Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru     Рис. 2.5 Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Рис. 2.6

Согласно полученной схеме замещения напряжение на транзисторе равно сумме напряжений на конденсаторе С и резисторе R. Конденсатор С заряжается разностью токов источника Iн и iVT. Ток конденсатора определяется по первому закону Кирхгофа:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.9)

где Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru .

Преобразуя это выражение, получим:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.10)

Напряжение на конденсаторе определим на основании дифференциальной связи между напряжением и током емкости

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru . (2.11)

В результате будем иметь:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru (2.12)

Напряжение на транзисторе будет определяться как:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Энергия, выделяющаяся в транзисторе при включении, определяется соотношением:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Преобразуем полученное выражение:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Подставив цифры и проинтегрировав, получим:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru ;

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Энергию, выделяющуюся в транзисторе при выключении, определяем аналогично:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Преобразуем полученное выражение:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

затем подставим числовые значения и проинтегрируем:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Средняя мощность динамических потерь определяется из соотношения:

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru 11 Вт .

Задача 2.2

Определить динамические потери в транзисторе VT при частоте переключения f и скважности q=2 (рис. 2.7). Время включения транзистора tвкл и время выключения tвыкл.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru
а) б)
Рис. 2.7

Исходные данные

Вариант
Рисунок 2.7а 2.7б
E, В      
J, А      
RH, Ом
f, Гц
tвкл, мкс
tвыкл, мкс

Задача 2.3

Определить динамические потери в транзисторе VT (рис. 2.8). Время включения транзистора tвкл и время выключения tвыкл. Транзистор переключается с периодом Т и скважностью q.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru
а) б)
  Рис.2.8

Исходные данные

Вариант
Рисунок 2.8а 2.8б
E, В      
J, А      
L, мкГн      
С, мкФ      
T, мс
q
tвкл, мкс
tвыкл, мкс
                     

Задача 2.4

Определить динамические потери при выключении (вариант 1-3) или при включении (вариант 4-6) транзистора VT (рис. 2.9). Время включения транзистора tвкл и время выключения tвыкл. Транзистор выключается при установившемся токе нагрузки.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru
а) б)
  Рис.2.9

Исходные данные

Вариант
Рисунок 2.9а 2.9б
E, В
RH, Ом
LH, мкГн      
CH, мкФ      
tвкл, мкс      
tвыкл, мкс      
                 

Задача 2.5

Определить значение защитной индуктивности LS , снижающей в N раз значение динамических потерь при включении транзистора VT (рис.2.10). Для решения задачи необходимо вычислить потери при включении транзистора без индуктивности LS , а затем определить ее требуемое значение. Диод VD – идеальный ключ, ток нагрузки считать неизменным за время переключения.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Рис. 2.10

Исходные данные

Вариант
N
Rн, Ом
E, В
tвкл, мкс

Задача 2.6

Определить значение защитной емкости CS, снижающей в N раз значение динамических потерь при выключении транзистора VT (рис. 2.11). Для решения задачи необходимо вычислить потери при выключении транзистора без емкости СS , а затем определить ее требуемое значение. Диод VD – идеальный ключ, ток нагрузки считать неизменным за время переключения.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru

Рис. 2.11

Исходные данные

Вариант
N
Rн, Ом
E, В
tвкл, мкс

Задача 2.7

Определить динамические потери при выключении в транзисторе и в защитном стабилитроне (рис. 2.12 а). ВАХ стабилитрона представлена на рис. 2.12б. Определить во сколько раз увеличится значение динамических потерь при отключении стабилитрона.

Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru Динамические потери в полупроводниковых электронных ключах - student2.ru
а) б)
Рис. 2.12

Исходные данные

Вариант
RH, Ом
LH, мГн 0,5
E, В
tвкл, мкс
Uст, В
                   

Наши рекомендации