Проведение исследований

Поскольку любые МВИ дают материал для функционального анализа, выбор объектов измерений, измеряемых физических величин и предлагаемых МВИ носит произвольный характер.

Задачей аналитического этапа исследований является определение наличия и (по возможности) характера составляющих погрешностей, происходящих от любого источника. Поскольку наличие комплексных погрешностей в обобщенных классах является очевидным, как например, наличие инструментальных погрешностей или «погрешностей условий», следует анализировать их конкретные составляющие.

Анализ каждой из рассматриваемых методик выполнения измерений проводится с целью выявления погрешностей от конкретных источников и по возможности оценки их порядка. Например, при измерении методом сравнения с мерой в инструментальные погрешности входят не только погрешности прибора, но и погрешности используемых мер (композиций мер). Возникнут ли значимые инструментальные составляющие погрешности от мер и таких вспомогательных устройств, как стойка или штатив станкового средства линейных измерений, присоединительные провода электрических приборов и другие необходимо выяснить в ходе анализа. Для экспериментального подтверждения результатов функционального анализа выбирают такие МВИ и методики их исследований, которые позволяют эффективно моделировать и оценивать проявление составляющих погрешностей от разных источников.

В качестве примеров экспериментальной работы приведем две возможные методики исследования, позволяющие подтвердить наличие инструментальных составляющих погрешности измерений (погрешности приборов и мер).

Для подтверждения наличия погрешностей приборов можно измерять размеры одной и той же физической величины (предпочтительно методом непосредственной оценки) двумя МВИ с использованием двух разных приборов. Различия номинально одинаковых результатов свидетельствуют о неравенстве погрешностей измерений:

Х₁ ≠ Х₂ Þ ∆₁ ≠ ∆₂ .

Если при этом сопоставляемые МВИ однотипны, реализуются одним оператором в одинаковых условиях и отличаются только метрологическими характеристиками применяемых средств измерений, то методические погрешности, «погрешности условий» и субъективные можно считать практически одинаковыми, и тогда можно полагать, что различия результатов, следовательно, и погрешностей измерений вызваны неодинаковыми погрешностями применяемых СИ, то есть

∆₁ ≠ ∆₂ Þ ∆ _{си 1} ≠ ∆ _{си 2}.

При измерении методом непосредственной оценки в погрешности применяемых СИ доминирующей составляющей будет погрешность прибора. В каждой исследуемой точке эти погрешности могут иметь стохастический (случайный) характер. Однако при незначимой случайной составляющей погрешность в исследуемой точке можно рассматривать как систематическую постоянную. Для экспериментальной проверки правильности одного из высказанных допущений можно выполнить серию измерений одной и той же физической величины с использованием одной МВИ и одного и того же СИ. Если при этом получают различные результаты х₁ ≠ х₂ ≠ х₃… то можно сделать вывод о наличии значимой случайной составляющей, если же результаты практически одинаковы (х₁ ≈ х₂ ≈ х₃ …), доминирующей является систематическая постоянная погрешность СИ (∆_s1 ≈ ∆ _s2 ≈∆ _s3 …).

Для исследования погрешностей мер можно выполнить сравнительные измерения двух номинально одинаковых физических величин, воспроизведенных с помощью мер. Противопоставляемые величины воспроизводят с использованием одинаковых однозначных мер, или однозначной меры и имеющего то же номинальное значение ансамбля мер (например, одиночная гиря – ансамбль той же массы, отдельная концевая мера длины – блок мер той же длины).

При использовании однотипных МВИ, реализуемых в одинаковых условиях, «погрешности условий» можно считать практически одинаковыми. То же можно сказать и о субъективных погрешностях. Методические погрешности также можно считать практически одинаковыми, а при хорошей организации измерений – практически отсутствующими. При соблюдении оговоренных допущений расхождение результатов будет вызвано погрешностями мер и, возможно, погрешностями составления ансамбля мер (у блока концевых мер длины к погрешностям размеров каждой из мер блока добавляются и погрешности их притирки) и погрешностями прибора, используемого в качестве индикатора отклонений.

Для регистрации расхождений нужно использовать прибор с высокой чувствительностью и точностью, его погрешности должны быть пренебрежимо малыми по сравнению с исследуемыми погрешностями мер. Если расхождения результатов измерений альтернативных величин не наблюдаются, значит, прибор имеет недостаточно высокую чувствительность. Если расхождения фиксируются стабильно, то при практически одинаковых погрешностях прибора разности результатов можно рассматривать как следствие проявления погрешностей мер.

Погрешность отдельной меры или однократно составленного ансамбля мер – систематическая постоянная, характер погрешностей многократно составляемых ансамблей мер зависят от особенностей процесса сбора ансамбля.

Возможно применение других методик исследования инструментальных составляющих погрешности измерений, которыеисполнители разрабатывают самостоятельнои согласуют с руководителем.

Для моделирования методической погрешностииз-за некорректной идеализации объекта измерений можно измерять деталь с явно выраженной погрешностью формы. Например, при измерении толщины изогнутой детали станковым СИ с базированием детали на столе станкового СИ вогнутой поверхностью фактически получают высоту выпуклой поверхности от нижней прилегающей плоскости (рисунок 4.2 а).

Наличие методической погрешности подтверждается разностью между результатами измерения высоты и собственно толщины детали, например, измеренной станковым прибором при перевороте детали на 180^о (рисунок 4.2 б) или измеренной накладным прибором (рисунок 4.2 в). Разность результатов измерений для конкретного объекта будет практически постоянной, что позволяет говорить о наличии постоянной систематической погрешности его измерений.

Для моделирования методической погрешности при измерении электрических величин можно выполнить измерение напряжения источника постоянного тока с нагрузкой и без нагрузки (рисунок 4.3 а, б), измерение резисторов с «параллельным подключением» сопротивления оператора (рисунок 4.3 г) в ситуации, когда он пальцами прижимает щупы к «ножкам» резистора, и т.п. Если сопротивление оператора на несколько порядков больше, чем измеряемое сопротивление резистора, то методическая погрешность при параллельном подключении оператора может оказаться пренебрежимо малой, но она имеет место и может быть рассчитана аналитически.

Для оценки «погрешностей условий» функциональный анализ МВИ начинают с выявления влияющих ФВ. «Подозреваемые ФВ» подвергают аналитической оценке, а также экспериментальной проверке. Воздействие постоянной по значению влияющей величины вызывает постоянную погрешность, а ее закономерное изменение приводит к переменной во времени систематической погрешности. Стохастические колебания влияющей величины, которую стремятся удержать в области нормальных или рабочих значений, приводят к появлению случайных составляющих погрешностей.

Для моделирования «погрешности условий» при измерении линейных размеров можно измерять предварительно нагретую (охлажденную) деталь или нагревать средство измерений. Измерение нагретой детали при остывании осуществляют через произвольные промежутки времени и заканчивают исследования после прекращения изменения ее размеров и наблюдаемой стабилизации измеряемого размера (Xn).

Тепловое воздействие на средство измерений можно моделировать, используя местный нагрев стойки станкового средства измерений длины в разных точках (рисунок 4.4 а). При исследовании СИ с высокой чувствительностью (с ценой деления 0,5 мкм и менее) роль источника тепла успешно играет рука оператора. Для каждой исследуемой (нагреваемой) точки строят экспериментальную тенденцию кажущегося изменения размеров измеряемой детали в координатах «время нагревания (остывания) Т – показания прибора Х» (рисунок 4.4 б).

Нагревание элементов прибора в разных точках приводит к возникновению погрешностей разного характера, вызванных градиентным температурным полем. Нагревание в точке А практически не приводит к возникновению погрешностей, поскольку удлинение кронштейна не вызывает вертикального смещения измерительной головки.

Можно также моделировать воздействие магнитных или электромагнитных полей на средства измерений, основанные на соответствующих физических принципах. Например, можно наблюдать явное воздействие детали с магнитными свойствами на магнитный компас.

При моделировании погрешностей отсчитывания (субъективная составляющая погрешности при использовании аналоговых средств измерений) оценивают различия отсчетов с округлением и интерполированием при работе разных операторов. Можно также воспроизвести погрешности из-за параллакса при наблюдении под углами, незначительно или значительно отличающимися от нормального. Рекомендуется при снятии отсчетов разными операторами, каждый результат при установлении указателя в произвольное положение записывать «секретно» и сравнивать эти результаты только по завершении всего цикла снятия отсчетов.

Погрешности манипулирования средствами измерений можно исследовать на примере измерений одной физической величины либо разными операторами, либо одним оператором с переустановкой детали и т.д. Например, можно исследовать процесс манипулирования гладким микрометром, сравнивая результаты измерений разных операторов (навыки работы и скорости вращения барабана индивидуальны).

Возможные варианты методик исследований погрешностей манипулирования:

а) исследование манипулирования средством измерений при настройке прибора на ноль по мере (один оператор настраивает прибор, второй независимо контролирует результаты настройки);

б) исследование манипулирования объектом измерений при выполнении независимых измерений одной и той же физической величины с помощью одной МВИ разными операторами.

Допускается использованиедругих методик, предложенных исследователями.