III. Проведение эксперимента и обработка результатов. Принадлежности: прибор по фотометрии, выпрямитель на 20 В, микроамперметр М94 на 100 мА
Лабораторная работа № 4. 6.
ИЗУЧЕНИЕ ЗАКОНА ОСВЕЩЕННОСТИ
Принадлежности: прибор по фотометрии, выпрямитель на 20 В, микроамперметр М94 на 100 мА.
I. Основные понятия и определения
Основной фотометрической единицей является единица силы света – 1 кандела (кд). Свеча – единица силы света, значение которой принимается таким, чтобы яркость полного излучения при температуре затвердевания платины была равна 60 кд.на 1 см2.
Рассмотрим точечный источник, сила света которого равна Iс, и выделим телесный угол dw с вершиной в точке О (см. рис.), Величина dФ, равная
dФ = Iс dw, (1)
называется световым потоком, излучаемым в пространство, ограниченное телесным углом dw. Единица светового потока – люмен определяется как поток от точечного источника света в 1 кд, излучаемый в телесном угле в 1 стер.
На пути светового потока dФ расположим элементарную площадку dS. Отношение светового потока к площади освещаемой поверхности называется освещенностью и обозначается Е:
Е= dФ/ dS.
Единица освещенности – люкс устанавливается на основании определения:
1 лк=1 лм!м2.
Как видно из рис. площадка dS, нормаль к которой nсоставляет угол a с радиусом r, видна из точки Опод телесным углом dw и равна:
dS=dS0/cos a= dwr2/ cos a.
Освещённость этой поверхности:
Е= dФ/ dS= dФ cos a/ dwr2= Iс cos a/ r2,
так как согласно (1) отношение dФ/ dwесть сила света источника Iс.
Таким образом,
E= Iс cos a/ r2, (2)
где Е — освещенность поверхности: Iс — сила света источника; a — угол между нормалью к поверхности и направлением распространения светового потока; r — расстояние от источника до поверхности.
Формула (2) выражает два так называемых закона освещенности.
1. Освещенность площадки обратно пропорциональна квадрату расстояния от точечного источника (закон обратных квадратов).
2. Освещённость площадки прямо пропорциональна косинусу угла между направлением лучистого потока и нормалью к площадке (закон косинуса).
Более наглядно закон обратных квадратов можно записать, если воспользоваться следующим: определим освещенность Е1 в одном из направлений от данного источника света силой I на расстоянии r:
E1= I cos a/ ,
тогда на расстоянии r2 тот же источник света создаст освещённость:
E2= I cos a/ r22.
Составив отношение освещенностей Е1 и Е2, подучим выражение, называемое законом обратных квадратов:
E1/ E2=( I cos a/ r21) / ( I cos a/ r22)= r22 / r21
или
E1/ E2= r22 / r21,
где E1 и E2- освещенности поверхностей; r1и r2 – расстояния от точечного источника до этих поверхностей.
Для проверки закона обратных квадратов на опыте можно воспользоваться оптическим фотометром или фотоэлементом.
II. Методика эксперимента
Прибор по фотометрии состоит из горизонтально расположенного кругового корпуса, закрепленного на двух стойках, установленных на общем основании. Корпус состоит из двух частей: камеры, внутри которой вмонтирован селеновый фотоэлемент, и разъемного цилиндра. На торцовой части камеры помещены две клеммы, к которым подведены выводы от фотоэлемента К этим же клеммам присоединяется микроамперметр или гальванометр. При помощи рукоятки фотоэлемент можно вращать вокруг его оси с максимальным углом поворота, равным 90°. Шкала, укрепленная на цилиндрической части камеры, служит для измерения угла поворота фотоэлемента. В нижней части откидной крышки цилиндра укреплена шкала с сантиметровыми делениями, предназначенная для линейных измерений. Нулевое деление шкалы совпадает с плоскостью чувствительного слоя фотоэлемента. Внутри цилиндра имеются несколько защитных ребер, которые предохраняют фотоэлемент от отраженных лучей. Черная матовая окраска внутренней части цилиндра служит надежной защитой от световых блесков.
Установка для проведения проверки закона обратных квадратов состоит из оптической скамьи, на которой смонтирован на правом конце фотофонарь с электрической лампой известной силы тока. По оптической скамье перемещают на ползунке селеновый фотоэлемент. Он представляет собой систему, состоящую из металлической железной подложки, тонкого слоя полупроводника селена и верхнего металлического полупрозрачного слоя, пропускающего значительную часть падающего на фотоэлемент светового потока Ф.
Собирают электрическую цепь согласно схеме.
III. Проведение эксперимента и обработка результатов
Изучение зависимости освещенности от расстояния между лампочкой и фотоэлементом
Собирают электрическую цепь согласно схеме. Вынимают диафрагмы и проверяют, расположен ли фотоэлемент перпендикулярно оси прибора (рукоятка должна находиться на нуле угломерной шкалы). Устанавливают лампочку против 10-го деления шкалы (т. е. расстояние rмежду лампочкой и фотоэлементом равно 10 см). Линзу ставят на расстоянии lпр от лампочки (следует использовать результаты предыдущего опыта). Не изменяя это расстояние, передвигают одновременно лампочку и линзу и снимают показания микроамперметра соответственно для положения лампочек через каждые 5 см, начиная с 10 до 30 см- Результаты записывают в таблицу и строят график, откладывая по оси абсцисс расстояние rо, по оси ординат — величину фототока I. Получают график зависимости фототока от расстояния. Но так как величина фототока пропорциональна освещенности, то график зависимости освещенности от расстояния будет иметь такой же вид.
Проверка закона косинуса
Прибор собирают так же, как в предыдущем случае. Лампочку и линзу устанавливают так, чтобы на фотоэлемент падал параллельный пучок лучей (расстояние между линзой и лампочкой равно lпр).
Рукоятку фотоэлемента ставят на нуле шкалы угломера, зажигают лампочку и наблюдают начальное показание микроамперметра. При помощи рукоятки устанавливают фотоэлемент под углом в 30, 45 и 60° и снимают соответственно показания микроамперметра. Результаты записывают в таблицу. При измерениях необходимо следить за тем, чтобы линза и лампочка не сдвигались с первоначально установленного места. Вычисляют теоретически значения lт для разных значений, а по формуле lт = lо cosa и сравнивают со значениями I, полученными экспериментально.