Принцип действия биполярного транзистора
Комбинация двух близко расположенных друг к другу р-n-переходов представляет собой биполярный транзистор. Два р-n-перехода разделяют такую структуру на три области, которые называются: эмиттер, база, коллектор (рис.7.1). Соответственно р-n-переходы получили название: база-коллекторный р-n-переход и база-эмиттерный р-n-переход. Название биполярный транзистор связано с тем, что его работа основана на движении как электронов так и дырок.
В зависимости от примесей в этих областях различают транзисторы nрn-типа и рnр-типа. Транзисторы nрn-типа получили наибольшее распространение в силу лучших частотных характеристик. Это объясняется большей подвижностью электронов. Термин биполярный транзистор указывает на то, что работа данного прибора связана с движением как электронов так и дырок.
Будем рассматривать транзистор nрn-типа. При работе с транзистором ко всем трем областям подводится напряжение. На база-эмиттерный (БЭ) переход подается небольшое напряжение в прямом направлении (рис.7.1). Величина напряжения десятые доли вольта и определяется падением напряжения на прямо смещенном переходе (для Si транзистора » 0,7 В). На переход база-коллектор (БК) подают постоянное напряжение в обратном направлении. Величина напряжения от единиц вольт до десятков и даже сотен вольт. Подобная схема включения называется схемой с общей базой (ОБ), так как питающие напряжения подаются относительно базы. Итак, переход БЭ смещен в прямом направлении, переход БК в обратном.
В эмиттере концентрация донорной примеси Nэ значительно больше, чем концентрация акцепторной примеси NБв базе, то есть Nэ >> NБ и база-эмиттерный переход является односторонним р-n+-переходом. При прямом смещении эмиттерный ток Jэ через переход определяется в основном электронной компонентой. Происходит преимущественное движение электронов из эмиттера в базу. Поток дырок из базы в эмиттер много меньше. Поэтому говорят, что происходит впрыскивание – инжекция электронов из эмиттера в базу. Попав в базу, электроны становятся в ней неосновными носителями заряда, происходит инжекция неосновных носителей заряда в базу.
Попав в базу, электроны движутся через нее к БК переходу за счет диффузии - диффундируют в базе.
Толщину базы w (рис.7.1) делают значительно меньше диффузионной длины электронов в базе:
w < LnБ .
Диффузионная длина – среднее Обычно w » 0,5 – 5 мкм; LnБ » 10 – 20 мкм. Поэтому большая часть электронов, инжектированных из эмиттера в базу, достигает БК перехода и перебрасывается в коллектор. Возникает ток коллектора Jк. Отсюда и название областей транзистора: эмиттер – от латинского emitto – выпускаю, испускаю; коллектор – от латинского kollector – сборщик.
Ток базы JБ обусловлен двумя компонентами:
1. Током основных носителей базы – дырок через прямо смещенный эмиттерный переход. Так как концентрация доноров в эмиттере Nэ >> NБ – концентрации акцепторов в базе, то ток дырок из базы в эмиттер очень маленький.
2. Ток за счет рекомбинации дырок и электронов в базе. Поскольку w < LnБ, то подавляющая часть электронов за время своей жизни успевает достигнуть коллекторного перехода и перейти в коллектор. Лишь очень небольшая часть электронов успеет прорекомбинировать с дырками базы. Потеря этих дырок и приводит к возникновению этой компоненты JБ, компенсирующей их убыль.
Обе компоненты базового тока очень малы, поэтому мал и сам ток JБ.
Токи в в транзисторе связаны соотношениями
JK = αJЭ и JБ = (1-α)JЭ
и согласно закона Кирхгофа
Jэ = JБ + Jк:
зесь α – коэффициент усиления по току транзистора, включенного по схеме с ОБ. В свою очередь
α = γ κ,
где γ – коэффициент эмиттерной инжекции. Определяет, какова доля электронного тока эмиттера в его полном токе и
γ ≈ 1/(1- NЭ/NБ).
Желательно выполнить коэффициент эмиттерной инжекции близким к единице, для чего стремятся сделать концентрацию примеси в эмиттере много больше концентрации примести в базе.
κ = 1- - коэффициент переноса, определяет: какая часть электронного тока эмиттера достигает коллектора. За счет уменьшения ширины базы в современных транзисторах коэффициент переноса составляет величину более 0,99.
Таким образом и α коэффициент усиления по току в схеме с ОБ близок к единице: α≥0,98. Следовательно, можно в первом приближении считать, что Jэ » Jк.
Попробуем оценить коэффициент усиления транзистора по мощности кр в схеме с общей базой (ОБ).
Входная мощность Рвх = Jэ*Vбэ = Jэ2rд. Выходная мощность снимается с сопротивления нагрузки Rн и Рвых = Jк2Rн. Тогда
в силу Jэ » Jк.
При токе Jэ = 1 мА rд = 25 Ом. Тогда кр = 400.
То есть схема включения транзистора с общей базой обеспечивает большой коэффициент усиления электрических сигналов по мощности или напряжению. Усиления по току не происходит, поскольку входной ток JЭ примерно равен выходному току JК.
При включении транзистора в схеме с общим эмиттером управление током коллектора производится малым током базы Jб. В такой схеме включения транзистора происходит усиление входного сигнала по напряжению и току и, естественно по мощности.
Полевые транзисторы
Работа полевых транзисторов основана на изменении проводящих свойств поверхностного слоя кристалла полупроводника по действием электрического поля. Рассмотрим полупроводник n-типа.
Полупроводник электронейтрален, то есть в каждой точке объема сумма всех зарядов равна нулю. Пусть теперь на поверхности полупроводника имеется положительный заряд. Этот заряд вызовет притяжение к поверхности кристалла полупроводника электронов для компенсации поверхностного заряда. Следовательно, у поверхности полупроводника образуется слой с повышенным содержанием электронов – основных носителей заряда в глубине объема полупроводника. Возникает явление обогащения поверхностного слоя основными носителями заряда. Проводимость поверхностного слоя возрастает.
Если на поверхности полупроводника отрицательный заряд, то он вызовет притяжение носителей заряда противоположного знака – дырок и отталкивание носителей отрицательного заряда – электронов. Таким образом, в поверхностном слое полупроводника формируется слой обедненный основными носителями заряда. Возникает явление обеднения основными носителями заряда. Проводимость поверхностного слоя полупроводника уменьшается. При некоторой величине отрицательного поверхностного заряда концентрация электронов в поверхностном слое уменьшится настолько, что станет равна концентрации дырок n0=р0. То есть свойства поверхностного слоя такие же как и у собственного полупроводника и проводимость этого слоя будет минимальна.
Пусть теперь на поверхности полупроводника существует достаточно большой отрицательный заряд. Для компенсации этого заряда из объема полупроводника будет притянуто большое число дырок и оттолкнуто большое число электронов. Поэтому в поверхностном слое р0 > n0. Если в объеме кристалла полупроводника проводимость n-типа, то в поверхностном слое проводимость р-типа, то есть в поверхностном слое полупроводника происходит смена типа проводимости – возникает явление инверсии проводимости.
Толщина приповерхностного слоя полупроводника, в котором происходит изменение проводимости составляет несколько микрон.
Таким образом, изменяя величину и знак заряда на поверхности полупроводника, можно изменять в широких пределах проводимость поверхностного слоя полупроводника. Подобные же явления возникают и на поверхности кристалла полупроводника р-типа.
Из изложенного следует, что можно изготовить полупроводниковый прибор, в котором возможно управление поверхностным током посредством изменения величины заряда на поверхности кристалла.
Идея такого прибора – полевого транзистора – была предложена примерно 100 лет тому назад, задолго до разработки биполярного транзистора. Причина в том, что в те годы ученые не могли контролировать состояние поверхности полупроводника, заряд на его поверхности, величина которого могла быть весьма большой.
Осознание роли процессов на поверхности полупроводника привело к созданию полевых транзисторов.