Химическое травление полупроводниковых

НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ

––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––

621.38 № 3269

п 845

ПРОЦЕССЫ МИКРО-
И НАНОТЕХНОЛОГИИ

Методическое руководство

к лабораторным работам для студентов III курса РЭФ

(направление 210100) заочной и дневной форм обучения

Новосибирск

УДК 621.382.017.7(076.5)

П 845

Составитель: канд. техн. наук В.А. Илюшин

Рецензент: канд. физ.- мат. наук, доц. Е.А. Макаров

Работа подготовлена на кафедре полупроводниковых приборов

и микроэлектроники

ÓНовосибирский государственный

 
технический университет, 2006

ОГЛАВЛЕНИЕ

Лабораторная работа № 1. Химическое травление

пластин кремния.......................................................................... 4

Лабораторная работа № 2. Термическое окисление

кремниевых пластин в сухом и влажном

кислороде......................................................................................... 14

Лабораторная работа № 3. Метод вакуумного напыления....... 27

Лабораторная работа № 4. Фотолитография в производстве

полупроводниковых приборов В ИНТЕГРАЛЬ-

ных схем........................................................................................... 39

Лабораторная работа № 1

Химическое травление

пластин кремния

Цель работы –практическое освоение технологических приемов химического травления и контроля качества поверхности пластин кремния.

Химическое травление полупроводниковых

Материалов

Большинство процессов или реакций, используемых для получения или обработки полупроводниковых материалов, являются гетерогенными, т. е. протекают на границе раздела двух различных фаз. Условия равновесия определяются законом действующих масс: в равновесном состоянии отношение произведений концентраций начальных веществ к произведению концентраций конечных веществ – постоянная величина. Однако при проведении гетерогенных процессов достижение состояния равновесия часто менее существенно, чем возможность управления кинетикой процессов, которая определяет производительность процесса и качество получаемого материала.

Гетерогенные процессы многостадийны. Например, в случае взаимо-действия полупроводникового материала с любым травителем должны наблюдаться следующие стадии:

1) доставка компонентов травителя к поверхности полупроводника;

2) адсорбция компонентов травителя поверхностью;

3) поверхностная диффузия адсорбированных компонентов и химические реакции;

4) десорбция продуктов реакции;

5) удаление десорбированных продуктов от поверхности.

При последовательно протекающих стадиях общая скорость обычно лимитируется скоростью самой медленно протекающей стадии. Если в какой-либо из последовательно протекающих стадий имеет место ряд параллельных процессов, то скорость этой стадии будет определяться наиболее быстрым из них. Для ускорения процесса в целом необходимо выявить лимитирующую стадию и найти способ ее интенсификации. При этом произойдет смена лимитирующей стадии.

Таким образом, в гетерогенных системах реакции протекают на границе раздела фаз и процесс в целом состоит не менее чем из трех этапов. Кинетика реакции может быть относительно простой, если максимальная скорость одного из приведенных этапов значительно меньше скорости любого другого. При таком допущении можно разделить гетерогенные процессы на два основных класса: на процессы, протекающие в диффузионном режиме, и на процессы, протекающие в кинетическом режиме. Лимитирующая стадия оказывает влияние не только на кинетику процесса травления, но и на окончательный результат. Так, если лимитирующими являются поверхностные процессы, то заметно влияние ориентации поверхности подложки и ее морфологии.

Жидкостное травление полупроводников может рассматриваться как процесс окисления поверхности полупроводника с образованием растворимых в травителе продуктов окисления. Например, при травлении германия перекисью водорода по реакции

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (1)

возникающая двуокись германия растворяется в воде с образованием метагерманиевой кислоты:

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (2)

Результирующая реакция окисления германия с образованием жидкофазных продуктов записывается в виде

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (3)

В тех случаях, когда образующийся окисел нерастворим в воде, например в случае Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , появлющегося при травлении кремния в азотной кислоте, в состав травителя наряду с окислителем вводят также растворитель окисла, например фтористоводородную кислоту. Она раст-воряет Химическое травление полупроводниковых - student2.ru с образованием жидкофазного соединения Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . (4)

В результате атомы кремния переходят в водный раствор в форме устойчивых комплексных ионов Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , возникающих за счет гидролитической диссоциации соединения по реакции Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .
В этот травитель часто вводят в качестве разбавителя уксусную кислоту. Она замедляет процесс травления, что облегчает контроль процесса и обеспечивает бóльшую однородность.

Для выяснения общих закономерностей кинетики жидкостного травления запишем химическую реакцию (3) в обобщенном виде:

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (5)

Реакция приведена к одному молю жидкого травителя Х. Схематически процесс травления показан на рис. 1.

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Рис. 1. Распределение в жидкой фазе концентраций

травящего компонента Х и одного из продуктов (А)

химической реакции при травлении твердого вещества s

Будем считать, что процесс травления проходит в три последовательные стадии:

– подвод химического травителя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru к поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (диффузионный поток Химическое травление полупроводниковых - student2.ru );

– гетерогенная химическая реакция на поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (химические потоки Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Химическое травление полупроводниковых - student2.ru для всех участников реакции S, X, A, B,...);

– отвод продуктов реакции Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Химическое травление полупроводниковых - student2.ru ... от поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (диффузионные потоки Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , ...).

Относительно быстрые сорбционные процессы на поверхности (адсорбция, поверхностная миграция, десорбция) включены во вторую стадию.

Для каждого жидкофазного участника реакции плотность диффузионного потока может быть представлена в виде

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (6)

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент массопереноса i-го компонента в жидкой фазе; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент диффузии; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – толщина диффузионного слоя.

В стационарном режиме травления диффузионный поток должен быть равен химическому потоку для каждого компонента, тогда

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (7)

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Условие стехиометрии для реакции травления устанавливает следующее соотношение между химическими потоками:

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (8)

В соответствии с основным законом химической кинетики

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (9)

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – константа скорости травления.

Подстановкой (9) в первое уравнение (7) получаем концентрацию травителя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru на реакционной поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru :

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (10)

Формулы (8)­–(10) дают окончательное выражение для плотности потока травления твердого вещества Химическое травление полупроводниковых - student2.ru :

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (11)

где введена эффективная константа травления Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , такая что

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (12)

Чтобы найти скорость травления, определяемую как Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (мкм/мин), используем соотношение

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (13)

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – число молекул в единице объема твердого вещества Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (14)

Воспользовавшись аналогией с электрическими цепями, выражение (11) можно представить в виде

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru (15)

Подобно электрическому току, протекающему через сопротивление под действием электродвижущей силы, поток Химическое травление полупроводниковых - student2.ru создается заданной концентрацией травителя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru в объеме жидкой фазы, которая играет роль «движущей силы» процесса травления. Система оказывает сопротивление протеканию потока Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , складывающееся из диффузионного Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и химического Химическое травление полупроводниковых - student2.ru сопротивлении. В зависимости от соотношения между этими сопротивлениями различают диффузионную и кинетическую области процесса травления.

Диффузионная область травления реализуется при Химическое травление полупроводниковых - student2.ru или Химическое травление полупроводниковых - student2.ru В этом случае из двух последовательных стадий процесса – диффузионного массопереноса и собственно химической реакции – наиболее медленной (лимитирующей) стадией является диффузия. Именно она управляет процессом травления в целом, при этом Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Скорость травления ограничивается скоростью диффузионной доставки молекул травителя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru к реакционной поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Поскольку диффузионная константа Химическое травление полупроводниковых - student2.ru для жидкой фазы является изотропной, все кристаллографические грани кристалла и дефекты травятся с одинаковой скоростью, что обеспечивает достаточно гладкую зеркально полированную поверхность пластины. Иными словами, в диффузионной области реализуется режим полирующего травления. Увеличение полирующих свойств травителя может быть достигнуто за счет усиления неравенства Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Следовательно, введение вязких добавок в травящий раствор и понижение температуры должны улучшать полирующее действие травителя за счет снижения коэффициента диффузии Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , в то время как интенсивное перемешивание раствора может оказать обратное действие в результате уменьшения эффективной толщины диффузионного слоя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Кинетическая область травления реализуется при Химическое травление полупроводниковых - student2.ru или Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . В этом случае из двух стадий процесса наиболее медленной (лимитирующей) стадией является собственно химическая реакция, при этом Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Процесс травления протекает в кинетической области, так как его скорость ограничивается скоростью химической реакции, а быстрая диффузионная доставка молекул травителя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru обеспечивает практически постоянную их концентрацию на поверхности Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , равную Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Так как константа травления Химическое травление полупроводниковых - student2.ru чувствительна к дефектности поверхности и имеет различные значения для разных граней кристалла, для кинетической области протекания процесса характерно селективное и анизотропное травление.

Селективность травления проявляется в преимущественном вытравливании дефектных мест на поверхности в форме ямок травления (например, в районе выходов дислокаций). Здесь активационный барьер для константы Химическое травление полупроводниковых - student2.ru понижен, что увеличивает локальную скорость травления. Анизотропность травления связана с различной скоростью травления разных кристаллографических граней, характеризуемых различными индексами Миллера. Обычно (например, для Si и GaAs) выполняются неравенства Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . В результате этого даже на бездефектных поверхностях, ориентированных по плоскостям {100} или {111}, при локальном травлении через специальные окна в защитной маске можно получить профилированные углубления, ограниченные плоскостями, характеризующимися малыми скоростями травления.

Порядок выполнения работы

Получить у преподавателя пластины кремния, пинцет, резиновые перчатки. Ознакомиться с рабочим местом: оборудованием, приборами, приспособлениями, инструментом, материалами.

Термическое окисление

Кремниевых пластин

В сухом и влажном кислороде

Цель работы –ознакомиться с технологией и освоить процесс термического окисления кремния в атмосфере «сухого» и «влажного» кислорода.

Окисления кремния

Окисление поверхности кремния принято осуществлять с помощью следующих химических реакций:

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru ,

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

при температуре в интервале 900...1200 °C. Окисление может производиться в сухом кислороде по первой реакции, в парах воды – по второй реакции, либо во влажном кислороде – с использованием обеих реакций. Наиболее качественные пленки получаются при окислении в сухом кислороде, тогда как окисление в парах воды обеспечивает наибольшую скорость формирования пленки. Часто применяется комбинированное окисление: сначала в сухом кислороде формируется совершенная граница раздела с минимальной плотностью поверхностных состояний, затем в увлажненном кислороде толщина пленки доводится до требуемого значения. Возможно уплотнение полученной таким образом пленки при окислении на заключительной стадии в сухом кислороде.

Схематически процесс окисления изображен на рис. 2. Собственно окисление происходит на внутренней границе Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . В процессе можно выделить три основные стадии, протекающие последовательно.

1. Диффузионный перенос частиц окислителя из объема газовой фазы на внешнюю поверхность Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и растворение окислителя в приповерхностном слое диоксида кремния.

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Рис. 2. Распределение молекул окислителя

в газовой фазе и в растущем слое SiO2

в процессе окисления кремния

2. Диффузионный перенос частиц окислителя через пленку Химическое травление полупроводниковых - student2.ru
к границе раздела диоксид–кремний.

3. Химическая реакция на границе раздела с кремнием, приводящая к образованию Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Введем обозначения: Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – поток окислителя, определяемый как количество молекул окислителя, пересекающих единичную площадь одной из границ раздела фаз в единицу времени; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – концентрация молекул окислителя на одной из границ раздела системы Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – толщина слоя диоксида. Трем стадиям процесса окисления соответствуют потоки Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , которые в стационарных условиях должны быть равными

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

В промышленных условиях для процесса термического окисления кремния используется принудительный поток окислителя, проходящий через рабочую камеру с определенной скоростью. Внутри газовой фазы концентрация молекул окислителя соответствует парциальному давлению Химическое травление полупроводниковых - student2.ru В процессе роста Химическое травление полупроводниковых - student2.ru происходит непрерывное растворение молекул окислителя в окисле, сопровождающееся обеднением приповерхностной области газа этими молекулами. По этой причине концентрация молекул окислителя на границе раздела фаз при Химическое травление полупроводниковых - student2.ru всегда меньше, чем в объеме газовой фазы. В приповерхностном диффузионном слое толщиной Химическое травление полупроводниковых - student2.ru возникает градиент концентрации молекул окислителя, который создает диффузионный поток окислителя по направлению к границе, определяемый выражением Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru ,

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – константа скорости газообразного массопереноса окислителя; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент диффузии окислителя в газовой фазе; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – равновесная концентрация окислителя в объеме газовой фазы и концентрация окислителя в газовой фазе у поверхности оксида соответственно. В случае ламинарного потока окислителя можно принять, что Химическое травление полупроводниковых - student2.ru где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Окислитель, адсорбированный поверхностью оксида, растворяется в Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Соотношение между концентрациями окислителя в газовой Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и твердой Химическое травление полупроводниковых - student2.ru фазах устанавливается коэффициентом распределения. Движущей силой процесса растворения является градиент концентраций, поэтому может быть введен соответствующий ему поток растворителя

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

равный Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , однако, поскольку процесс растворения не был выделен в отдельную стадию, а включен в первую, необходимо поток Химическое травление полупроводниковых - student2.ru выразить через Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Процесс растворения подчиняется закону Генри. Поэтому

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент растворимости молекул окислителя в диоксиде кремния; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – парциальное давление окислителя при Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Очевидно, что должно быть верным и уравнение

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Введенная формально величина Химическое травление полупроводниковых - student2.ru определяет концентрацию растворенных в Химическое травление полупроводниковых - student2.ru молекул окислителя, если в законе Генри вместо давления Химическое травление полупроводниковых - student2.ru подставить Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Тогда

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент массопереноса молекул окис-лителя в газовой фазе, приведенный к твердой фазе.

В стационарном режиме производная по времени в диффузионном уравнении равна нулю. Следовательно, и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Тогда концентрация окислителя линейно зависит от Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Диффузионный поток окислителя от поверхности диоксида к границе раздела диоксид–кремний

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – концентрация молекул окислителя на границе раздела диоксид–кремний; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент диффузии окислителя в Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Химический поток Химическое травление полупроводниковых - student2.ru следует понимать как убыль молекул окислителя вследствие их превращения в молекулы Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Скорость реакции окисления пропорциональна концентрации окислителя, поэтому

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – константа скорости реакции окисления.

В стационарном режиме окисления концентрации не зависят от времени и все потоки равны Химическое травление полупроводниковых - student2.ru :

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Решение этой системы относительно неизвестных Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru дает

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru ,

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Скорость роста слоя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru определяется величиной химического потока Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . За время Химическое травление полупроводниковых - student2.ru на единицу площади поверхности кремния посту-пает количество молекул окислителя, равное Химическое травление полупроводниковых - student2.ru В результате этого толщина слоя Химическое травление полупроводниковых - student2.ru увеличивается на величину, поэтому

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – число молекул окислителя, необходимое для формирования единицы объема Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . В единице объема диоксида кремния содержится Химическое травление полупроводниковых - student2.ru молекул Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru г/см Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – массовая плотность Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , Химическое травление полупроводниковых - student2.ru г/моль – молярная масса Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , Химическое травление полупроводниковых - student2.ru моль Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – число Авогадро. Приведенные значения дают Химическое травление полупроводниковых - student2.ru см Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , тогда Химическое травление полупроводниковых - student2.ru см Химическое травление полупроводниковых - student2.ru для окисления в сухом кислороде и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru см Химическое травление полупроводниковых - student2.ru для окисления в парах воды.

Дифференциальное уравнение для нахождения Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

После разделения переменных и интегрирования с граничным условием Химическое травление полупроводниковых - student2.ru получаем

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Это уравнение имеет единственный неотрицательный корень

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Проведем анализ данного решения для двух частных случаев.

1. Начальная стадия роста, когда Химическое травление полупроводниковых - student2.ru а Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Воспользуемся соотношением Химическое травление полупроводниковых - student2.ru при Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Тогда

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Этой стадии соответствует линейный по времени закон роста.

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Обычно Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Это означает, что лимитирующей стадией, ограничивающей скорость роста диоксида, является химическая реакция, и процесс окисления протекает в кинетической области. В этом случае константа линейного роста Химическое травление полупроводниковых - student2.ru пропорциональна парциальному давлению Химическое травление полупроводниковых - student2.ru окислителя в газовой фазе, коэффициенту растворимости Химическое травление полупроводниковых - student2.ru молекул окислителя в диоксиде кремния и не зависит от коэффициента диффузии Химическое травление полупроводниковых - student2.ru :

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Таким образом,

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Отметим, что скорость роста линейно возрастает с увеличением давления окислителя. С увеличением температуры молекулярная растворимость газов, как правило, падает по экспоненциальному закону, однако этот спад компенсируется увеличением константы скорости реакции Химическое травление полупроводниковых - student2.ru и константа скорости линейного роста Химическое травление полупроводниковых - student2.ru с ростом температуры всегда увеличивается.

На поверхности кремния всегда присутствует естественный окисел толщиной Химическое травление полупроводниковых - student2.ru 3...5 нм. Для учета этого окисла необходимо изменить граничное условие Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . В этом случае решение дифференциального уравнения для начальной стадии роста имеет вид Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru Влияние этого параметра заметно только в начальный момент окисления.

2. Конечная стадия роста, когда Химическое травление полупроводниковых - student2.ru а Химическое травление полупроводниковых - student2.ru В этом случае

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

где Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент проницаемости диоксида кремния молекулами окислителя; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент растворимости молекул окислителя в диоксиде кремния; Химическое травление полупроводниковых - student2.ru – коэффициент диффузии окислителя в Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Поскольку

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru ,

рост на данной стадии называется параболическим.

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Химическое травление полупроводниковых - student2.ru

Рис. 3. Зависимость толщины пленки диоксидаот времени
Температурная зависимость Химическое травление полупроводниковых - student2.ru определяет влияние температуры на процесс параболического роста Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . Как и Химическое травление полупроводниковых - student2.ru , с ростом температуры Химическое травление полупроводниковых - student2.ru всегда увеличивается. Константа параболического роста не включает константу скорости химической реакции, поэтому процесс роста на конечной стадии протекает в диффузионной области. Лимитирующей стадией является процесс массопереноса через слой Химическое травление полупроводниковых - student2.ru . С увеличением парциального давления Химическое травление полупроводниковых - student2.ru константа Химическое травление полупроводниковых - student2.ru возрастает как Химическое травление полупроводниковых - student2.ru .

Зависимость толщины пленки диоксида от времени представлена графически на рис. 3. Область I соответствует кинетическому режиму окисления, область II – диффузионному, область III – диффузионно-кинетическому. В последнем случае скорости диффузионного массопереноса и химической реакции сравнимы.

Порядок выполнения работы

1. Получить у преподавателя необходимые приборы и инструменты. Диффузионная печь заранее подготовлена к проведению лабораторной работы преподавателем или лаборантом. Запрещается включать и выключать оборудование, изменять режим работы диффузионной печи, регулировать газовые потоки. Студенты выполняют только операции, указанные в настоящем перечне.

2. Произвести измерение температур в каналах диффузионной печи. Убедиться, что разность температур составляет не более 5 °C. Для проведения измерений извлечь термопару из контейнера, подключить к клеммам милливольтметра и поместить поочередно в каждый канал. Считывание показаний милливольтметра производить после установления стационарного состояния (через 3...5 мин). После проведения измерений термопару немедленно поместить обратно в контейнер.

Соблюдайте осторожность. Температура кварцевого чехла термопары близка к 1000 °C. По калибровочной таблице термопары определить температуры в каналах.

3. Пинцетом поместить кремниевые пластины вертикально в кварцевые лодочки по 4 шт. в каждую. Одну лодочку поместить в канал окисления в сухом, другую – в канал окисления во влажном кислороде. Кварцевой штангой медленно (3 мин) переместить лодочки в центральные области каналов. Штангу убрать в контейнер. Запустить таймер.

4. Через 20 мин кварцевой штангой переместить лодочки из центральной части каналов к краям. Убрать штангу в контейнер. Пинцетом снять по одной пластине с каждой лодочки и поместить в металлические контейнеры, так как пластины горячие. Кварцевой штангой переместить лодочки в центральную область каналов. Убрать штангу в контейнер.

5. Повторить п. 4 еще три раза.

6. Определить толщину пленок диоксида кремния. Для этого химическим травлением сформировать в слоях диоксида ступеньки с клиновидным профилем: нанести фторопластовой палочкой каплю концентрированной плавиковой кислоты на край окисленной пластины кремния. Кислота смачивает поверхность оксида и не смачивает поверхность кремния. В момент изменения типа смачивания смыть кислоту водой. Высушить пластины бумажными фильтрами. Толщину определять по цвету оксида при нормальном падении света, пользуясь таблицей, приведенной ниже и учитывая порядок интерференции, определяемый по числу повторений темного фиолетово-красного цвета на вытравленном клине.

7. Построить графики зависимости толщины пленки диоксида кремния от времени при окислении в сухом и влажном кислороде.

Материалы

1. Полированные пластины кремния n-типа с удельным сопротивлением 0,50 ... 4,5 Ом×см, разрезанные на 4 части. Перед проведением работы пластины должны быть обезжирены кипячением в толуоле в течение 5 мин и подвергнуты химической обработке, включающей кипячение в концентрированной азотной кислоте, промывку в дистиллированной воде, обработку плавиковой кислотой (20 мин) для удаления оксида и финишную промывку дистиллированной водой.

2. Кислота плавиковая концентрированная.

Определение толщины пленок методом цветовых оттенков

d, мкм Порядок интерференции Цвет последней полосы
0,050   Бежевый
0,0700   Коричневый
0,0960   Темно-коричнево-красный
0,1020   Индиго
0,1433   Голубовато-серый
0,1500   Светло-голубой
0,1688   Зелено-голубой
0,1700   Металлический
0,1786   Бледно-зеленый
0,1836 I Желто-зеленый
0,1883   Светло-зеленый
0,1916   Зелено-желтый
0,1963   Золотисто-желтый
0,2000   Светло-золотистый
0,2200   Золотистый
0,2216   Оранжевый
0,2490   Светло-красный
0,2500   Красный
0,2700   Красно-фиолетовый
0,2753   Пурпурный
0,2810   Пурпурно-
0,2886   фиолетовый
0,3000   Фиолетовый
0,3033   Фиолетово-голубой
0,3100   Индиго
0,3160   Голубой
0,3200 II Темно-голубой
0,3400   Зелено-голубой
0,3500   Светло-зеленый
0,3760   Зеленый
0,3830   Желтовато-зеленый

Окончание таблицы

d, мкм Порядок интерференции Цвет последней полосы
0,3900   Грязно-зеленый
0,4100   Желтый
0,4193   Светло-оранжевый
0,4200   Телесный
0,4400   Красный
0,4476   Фиолетово-красный
0,4586   Фиолетовый
0,4600   Красно-фиолетовый
0,4757   Голубовато-фиолетово-серый
0,4800   Голубовато-фиолетовый
0,4900   Голубой
0,4983   Зелено-голубой
0,5000   Голубовато-зеленый
0,5200   Зеленый
0,5403   Тускло-зеленый
0,5526 III Желто-зеленый
0,5606   Зелено-желтый
0,5703   Желто-серый
0,5800   Светло оранжевый
0,5813   Сиреневато-серовато-красный
0,6000   Темно-розовый
0,6088   Карминово-красный
0,6300   Фиолетово-красный
0,6423   Серовато-красный
0,6690   Голубовато-серый
0,6800   Голубоватый
0,6826   Голубовато-зеленый
0,7200 IV Зеленый
0,7700   Желтоватый
0,7793   Бледно-розовый
0,8000   Оранжевый
0,8200   Желтовато-розовый
0,8500   Светло-красновато-фиолетовый
0,8600   Фиолетовый
0,8700 V Голубовато-фиолетовый
0,8893   Бледно-зелено-голубоватый
0,8900   Голубой
0,9200   Голубовато-зеленый
0,9500   Желто-зеленый
0,9700   Желтый

Контрольные вопросы

1. Какие методы применяются для получения пленок