Металлографические методы испытаний
При изучении строения металла различают макроструктуру - строение металла, видимое невооруженным глазом, и микроструктуру - строение металла, определяемое металлографическими методами, т. е. с использованием различных типов микроскопов (оптических, электронных и ионных).
Макроструктуру металла изучают путем просмотра поверхности специально подготовленных образцов – продоль-ных или поперечных макрошлифов (темплетов) или изломов - невооруженным глазом, а также с помощью лупы при уве-личении до 30 раз. Это позволяет контролировать большую поверхность и получать общее представление о качестве металла и о наличии в нем определенных пороков после различных видов технологического процесса изготовления деталей: литья, обработки давлением, сварки, термической и химико-термической обработки.
Макроанализ, как правило, является не окончательным, а предварительным этапом исследования структуры металла. Он позволяет выбрать те участки, которые затем тщательно изучаются с помощью металлографических методов.
Путем исследования макроструктуры металла можно определить:
1) нарушение сплошности металла: усадочную рыхлость, пористость, газовые пузыри и раковины, подкорковые пузыри, межкристаллитные трещины; трещины и пустоты в литом металле; трещины, возникшие при обработке давлением и термической обработке, флокены; пороки сварки (в виде непровара,газовых пузырей, пустот);
2) дендритное строение и зону транскристаллизации в литом металле, размер зерна;
3) химическую неоднородность литого металла (ликвацию);
4) волокнистую структуру деформированного металла;
5) структурную или химическую неоднородность металла после обработки давлением, термической, термомеханической или химико-термической обработки;
6) вид излома: вязкий, хрупкий, камневидный и т. д.
Большое значение для успешного проведения макро-анализа имеет правильный выбор наиболее характерного для исследуемой детали сечения или места излома. Как правило, для контроля качества металла число образцов, их размеры, место вырезки и другие условия отбора проб указывают в стандартах и технических условиях на конкретную металлопродукцию.
Контролируемую поверхность макрошлифов (темплетов) перед травлением торцуют, строгают и шлифуют. Готовая поверхность должна быть ровной, без наклепа и прижога. Темплеты травят специальными реактивами до выявления строения и дефектов макроструктуры. Для выявления макроструктуры многих марок стали применяют горячий (60-80 °С) 50 %-й раствор соляной кислоты. Темплеты травят в течение 5 - 45 мин до четкого выявления макроструктуры.
Для изучения изломов образцы, вырезанные в поперечном или в продольном направлении, надрезают, а затем разрушают по месту надреза на прессе или копре.
Для изучения микроструктуры используются оптические, электронные и ионные микроскопы.
Изучение микроструктуры обычно начинают с рас-смотрения специально приготовленного образца (шлифа) в нетравленом виде, т. е. после его полирования и промывки. В этом случае можно изучать неметаллические включения, мелкие поры, некоторые структурные составляющие, характерные для ряда сплавов (например, графит в сером чугуне).
Количество и характер распределения неметаллических включений определяют сравнением наблюдаемых изображений на шлифе при увеличении в 100 раз со стандартными шкалами. После этого проводится травление шлифа. Реактивы для травления выбирают в зависимости от состава изучаемого сплава и от задачи исследования.
Микроскопы делятся на переносные и стационарные. Пе-реносные микроскопы используются для исследования поверх-ности металла непосредственно на изделии (без вырезки образца.
Металлографический микроскоп имеет довольно сложное устройство, включающее в себя механическую, оптическую (объективы, окуляры), осветительную системы и фотографическую аппаратуру. Наиболее широкое применение в исследовательских и заводских лабораториях нашли микроскопы МИМ-7, МИМ-8, "Неофот-21".
Микроскопическое исследование специально подготов-ленного образца позволяет изучать такие структурные особен-ности, как форма, размер, распределение фаз и неметаллических включений, размер зерна, ликвационные области и др. Разработано несколько типов микроскопов для изучения микро-структуры металлов и сплавов в различных температурных условиях. С их помощью можно проводить наблюдения за ростом зерна в металле при нагреве, фазовыми превращениями, процессом спекания, поверхностными явлениями. Существуют приспособления, позволяющие проводить деформацию нагретого образца и дающие возможность наблюдать за процессами скольжения, двойникования, релаксации, фазовыми превращениями, происходящими в материале образца.
В электронных микроскопах используются не оптические, а электронные лучи с очень малой длиной волны. Это позволяет изучать объекты размером до 0,2 - 0,5 нм.
В электронной микроскопии используются два принципиально различных типа электронных микроскопов: просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) и растровые (сканирующие) электронные микроскопы (РЭМ). Наибольшее распространение нашли ПЭМ, которые позволяют получать увеличение исследуемого объекта до 106 раз.
Применение просвечивающей электронной микроскопии оказало решающее влияние на формирование современных представлений о механизме распаде пересыщенных твердых растворов; распределении, движении, размножении и плотности дислокаций; зарождении и росте выделений, характере образования трещин, строении границ зерен; процессах пластической деформации, разрушения и рекристаллизации, структурных проявлениях радиационных повреждений, тонкой химической неоднородности и т. д.
Достаточно широкое применение в современной металлографии получили растровые электронные микроскопы (РЭМ). Увеличение в РЭМ достигает от 104 до 105 раз.
РЭМ занимает промежуточное положение между опти-ческими микроскопами и просвечивающими электронными микроскопами (ПЭМ).
Недостатками РЭМ являются ограниченная разрешающая способность - до 4 - 12 нм; невозможность выявления структуры внутри образца, необходимость помещения образца в вакуум и др. Основная область применения РЭМ - фрактография, т. е. изучение характера разрушения материала с получением качественной и количественной информации и поверхности излома.
Благодаря высокой разрешающей способности РЭМ широко используется для металлографического исследования сплавов, обладающих гетерогенными и дисперсными струк-турами. С по мощью РЭМ изучается строение эвтектических и эвтектоидных смесей, размеры, форма и распределение дисперс-ных частиц второй фазы и т. д. Широкие возможности имеет РЭМ для исследования порошковых и композиционных материалов на разных стадиях их изготовления.
Увеличение автоионного микроскопа составляет более 106. Изображение в автоионном микроскопе формируется с помощью ионизированного гелия, образцы представляют собой тонкую проволоку с сильно утонченным острием. Этим методом можно различать отдельные атомы, находящиеся на поверхности металла, изучать поверхностную диффузию, обнаружить отдельные вакансии, межузельные атомы, дислокации, изучать состояние границ зерен. Высокая разрешающая способность, возможность получения инфор-мации о дефектах структуры кристаллической решетки делает автоионный микроскоп уникальным прибором. С помощью этого метода наиболее полно исследованы тугоплавкие металлы.
В основе рентгеноструктурного анализа (РСА) лежит взаимодействие рентгеновского излучения с электронами вещества, в результате которого возникает дифракция рентгеновских лучей (длина волны 0,02-0,2 нм).
РСА особенно широко применяется для изучения кристаллической структуры материалов, так как они представляют собой созданную самой природой дифракционную решетку для рентгеновского излучения. Прикладной частью рентгеноструктурного анализа является идентификация фаз по их кристаллоструктурным параметрам. Это важно при изучении многокомпонентных и многофазных металлических сплавов.
РСА применяется также для определения разного рода нарушений кристаллической структуры в реальных веществах (дисперсности и блочного строения кристаллитов, дислокаций, дефектов упаковки и т. п.), текстуры металлов, а также для ана-лиза атомной структуры частично упорядоченных и некрис-таллических материалов (например, металлических стекол).
Для проведения качественного и количественного анализа рентгеноструктурным методом используются специальные камеры и дифрактометры.