Второй этап компактификации искривленных измерений

Подобно тому, как это было сделано в п. 13, выражение (20.5) можно свести к двум слагаемым

‹ds(–)2 + ‹ds(+)2› = ‹gij(+)›dxidxj + ‹gij(–)›dxidxj = 0, (21.1)

где

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (21.2)

– квадратичная форма, являющаяся результатом усреднения семи метрик из (20.4) с сигнатурами, входящими в числитель левого ранжира (13.1) или (21.4);

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (21.3)

– квадратичная форма, являющаяся результатом усреднения семи усредненных метрик из (20.4) с сигнатурами, входящими в числитель правого ранжира (13.1) или (21.4).

(+ + + +) (– – – + ) (+ – – + ) (– – + – ) (+ + – – ) (– + – – ) (+ – + – ) (+ – – – )+ + + + + + + + + (– – – – ) (+ + + – ) (– + + – ) (+ + – +) (– – + +) (+ – + +) (– + – +) (– + + +)+ (21.4)  

Таким образом, из всей совокупности lm¸n-вакуумных флуктуаций можно выделить:

– усредненную «внешнюю» сторону 23-lm¸n-вакуумной протяженности (или усредненный субконт) с усредненной метрикой

ds(+ – – –)2 = ds(–)2 = gij(–)dxidxj с сигнатурой (+ – – –) (21.5)

где Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (21.6)

– усредненную «внутреннюю» сторону 23-lm¸n-вакуумной протяженности (или усредненный антисубконт) с метрикой

ds(– + + +)2 = ds(+)2 = gij(+)dxidxj с сигнатурой (– + + +), (21.7)

где Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru . (21.8)

Для сокращения записей знаки усреднения в метриках (21.5) – (20.8) опущены.

На рис. 21.1 условно показан усредненный участок двухсторонней 23-lm¸n-вакуумной протяженности, внешняя сторона которой (субконт) описывается метрикой ds(–)2 (21.5) , а внутренняя сторона (антисубконт) – метрикой ds(+)2 (21.7).

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru

Внутренняя 4-мерная сторона ВП   ds(+)2 = gij(+)dxidxj , сигнатура(– + + +)    
Внешняя 4-мерная сторона ВП   ds(–)2 = gij(–)dxidxj , сигнатура (+ – – –)  

Рис. 21.1. Упрощенная иллюстрация участка двухсторонней 23-lm¸n-вакуумной протяженности (ВП),

внешняя сторона которой описывается 4-метрикой ds(–)2, а внутренняя сторона

– 4-метрикой ds(+)2, при ε → 0

21. Тензор 4-деформаций 23-lm¸n-вакуумной протяженности

Пусть исходное неискривленное метрико-динамическое состояние исследуемого участка внешней стороны 23-lm¸n-вакуумной протяженности (т.е. усредненного субконта) характеризуется усредненной метрикой

ds0(–)2 = gij0(–)dxi dxj с сигнатурой (+ – – –), (22.1)

а искривленное состояние того же участка задается усредненной метрикой

ds(–)2 = gij(–)dxi dxj с той же сигнатурой (+ – – –). (22.2)

Отличие искривленного состояния участка субконта от его неискривленного состояния определяется разницей вида (19.3)

ds(–)2 – ds0(–)2 = (gij(–) – gij0(–)) dxidxj = 2eij(–)dxidxj , (22.3)

где

eij(–) = ½ (gij(–) – gij0(–)) (22.4)

– тензор 4-деформаций локального участка субконта.

Относительное удлинение искривленного участка субконта равно [17]

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru . (22.5)

Откуда следует

ds(–)2 = (1 + l(–))2ds0(–)2. (22.6)

Подставляя (22.6) в (22.3) с учетом (22.4) имеем [17]

eij(–) = ½ [(1 + l(–))2 – 1] gij0(–), (22.7)

или в развернутом виде

eij(–) = ½ [(1 + li(–))(1 + lj(–)) cosbij(–) – cosbij0(–)] gij0(–), (22.8)

где

bij0(–) – угол между осями xi и xj системы отсчета, «вмороженной» в исходное неискривленное состояние исследуемого участка субконта;

bij(–) – угол между осями xi¢ и xj¢ искаженной системы отсчета «вмороженной» в искривленное состояние того же участка субконта.

При bij0(–) = p/2 выражение (22.8) принимает вид

eij(–) = ½ [(1 + li(–))(1 + lj(–)) cosbij(–) – 1] gij0(–). (22.9)

Для диагональных компонентов тензора 4-деформаций eii(–) выражение (22.9) упрощается

eii (–) = ½ [(1 + li(–))2 – 1] gii0(–), (22.10)

откуда следует [17]

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (22.11)

Если деформации eij(–) малы, то, разложив выражение (22.11) в ряд, и ограничившись первым членом ряда, получим относительное удлинение субконта

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru . (22.12)

Аналогично, деформация локального участка внутренней стороны 23-lm¸n-вакуумной протяженности (усредненного антисубконта) определяется выражением

ds(+)2 – ds0(+)2 = (gij(+) – gij0(+))dxidx j = 2eij(+)dxidx j, (22.13)

где

eij(+) = ½ (gij(+) – gij0(+)) (22.14)

– тензор 4-деформаций локального участка антисубконта;

ds0(+)2 = gij0(+)dxi dxj с сигнатурой (– + + +) (22.15)

– метрика неискривленного состояние антисубконта;

ds (+)2 = gij(+)dxi dxj с той же сигнатурой (– + + +) (22.16)

– метрика искривленного состояние антисубконта.

Относительное удлинение антисубконта

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (22.17)

Определим тензор 4-деформаций двусторонней 23-lm¸n-вакуумной протяженности как среднее

eij(±) = ½ (eij(+) + eij(–)) = ½ (eij(– + + +) + eij(+ – – –)), (22.18)

или, с учетом (22.4) и (22.14)

eij(±) = ½ (gij(+) + gij(–)) – ½ (gij0(+) + gij0(–)) = ½ (gij(+) + gij(–)), (22.19)

т.к. согласно «вакуумному условию» (4.6):

gij0(+) + gij0(–) = gij0(– + + +) + gij0(+ – – –) = 0.

Относительное удлинение локального участка двухсторонней 23-lm¸n-вакуумной протяженности li(±) в этом случае следует вычислять с помощью формулы

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru , (22.20)

где

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (22.21)

Поскольку в любом случае одна из компонент gij0(–) или gij0(+) является отрицательным числом, относительное удлинение (22.21) является комплексным числом.

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru   Рис. 22.1. Соотношение отрезков ds(–) и ds(+) Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru   Рис. 22.2. Если спроецировать такую двойную спираль на плоскость, то в месте пересечения ее линии всегда взаимно перпендикулярны  
В этой связи отметим следующее важное обстоятельство. Если обе стороны выражения (22.19) умножить на dxidxj, то получим усредненную квадратичную форму

ds(±)2 = Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (ds(–)2+ ds(+)2) , (22.22)

которая напоминает теорему Пифагора a2 + b2 = c2. Это означает, что отрезки линий ( Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru )1/2ds(–) и ( Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru )1/2ds(+) всегда взаимно перпендикулярны по отношению друг к другу ds (–)^ ds (+) (рис. 22.1), а две линии, направленные в одном и том же направлении, могут быть всегда взаимно перпендикулярны только в том случае, когда они образуют двойную спираль (рис. 22.2).

Таким образом, усредненная метрика (22.22) соответствует отрезку «жгута», состоящего из двух взаимно перпендикулярных спиралей s(–) и s(+). При этом, также как усредненное относительное удлинение (22.21), участок данной «двойной спирали» можно описать комплексным числом

ds (±)= Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (ds (–)+ids (+)), (22.23)

квадрат модуля которого равен (22.22).

Определение № 22.1k-жгут – это результат усреднения метрик с разными сигнатурами (где k – число усредняемых метрик, т.е. число «нитей» в «жгуте»).

В частности, усредненная метрика (22.22) называется 2-жгутом, так как она «скручена» из 2-х линий(«нитей»): ds(–) = ds (+ – – –) и ds(–) = ds(– + + +).

На следующем, более глубинном 16-стороннем, уровне рассмотрения метрико - динамические свойства локального участка 26-lm¸n-вакуумной протяженности характеризуются суперпозицией (т.е. аддитивным наложением или усреднением) шестнадцати 4-метрик со всеми 16-ю возможными сигнатурами (11.5), т.е. 16-жгутом:

dsS2 = 1/16 (ds(+ – – –)2 + ds(+ + + +)2 + ds(– – – +)2 + ds(+ – – +)2 +

+ ds(– – + –)2 + ds(+ + – –)2 + ds(– + – –)2 + ds(+ – + –)2 + (22.24)

+ ds(– + + +)2 + ds(– – – – )2 + ds(+ + + –)2 + ds(– + + –)2 +

+ ds(+ + – +)2 + ds(– – + +)2 + ds(+ – + +)2 + ds(– + – +)2) = 0.

В этом случае имеем 16 тензоров 4-деформаций всех типов 4-пространств

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru , (22.25)

где eij(p) = ½ (сij(p) – сij0(p)) (22.26)

– тензор 4-деформаций p-го 4-подпространства.

сij0(p) – метрический тензор неискривленного участка p-го 4-подпространства;

сij(p) – метрический тензор того же, но искривленного участка p-го 4-подпространства.

При 16-стороннем уровне рассмотрения общий тензор 4-деформаций eii(16) локального участка 26-lm¸n-вакуумной протяженности равен

eij(16) = 1/16 (eij (1)+ eij (2)+eij(3)+eij(4)+eij(5)+eij(6)+eij(7)+eij(8)+eij(9)+

+eij(10)+eij(11)+eij(12)+eij(13)+eij(14)+eij(15)+eij(16)), (22.27)

а относительное удлинение локального участка вакуума Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru в этом случае следует вычислять по формуле

li (16) = η1 li (1)(16) + η2 li (2)(16) + η3 li (3)(16) +…+ η4 li (16)(16) , (22.28)

где

Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru . (22.29)

где ηm (где m = 1, 2, 3, … , 16) – ортонормированный базис объектов, удовлетворяющих антикоммутационному соотношению алгебры Клиффорда

ηmηn + ηnηm = 2δmn, (22.30)

где δnm – единичная 16´16-матрица.

При этом участок 16-жгута состоит из шестнадцати «нитей»:

ds (16) = η1 ds(+– – –) + η2 ds(+ + + +) + η3 ds(– – – +) + η4 ds(+ – – +) +

+ η5 ds(– – + –) + η6 ds(+ + – –) + η7 ds(– + – –) + η8 ds(+ – + –) + (22.31)

+ η9 ds(– + + +) + η10 ds(– – – –) + η11 ds(+ + + –) + η12 ds (– + + –) +

+ η13 ds(+ + – +) + η14 ds(– – + +) + η15 ds(+ – + +) + η16 ds(– + – +) = 0.

Если все линейные формы ds(+– – –), ds(+ + + +), … , ds(– + – +) удается представить в диагональном виде, то в соответствии с (14.13) в выражение (22.31) можно представить в спинтензорном виде

ds (16) = Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru +

+ Второй этап компактификации искривленных измерений - student2.ru (22.32)

Возможны еще более глубинные 2n-сторонние уровни рассмотрения метрико - динамических свойств «вакуума» (пп. 1.2.9, 1.2.13 в [5]), с расширением количества компонент метрического тензора до бесконечности.

Наши рекомендации