Как образуется электромагнитное поле?
1. при изменении индукции магнитного поля, которое вызывает образование вихревого электрического поля;
2. при изменении направления Е электрического поля, которое вызывает образование вихревого магнитного поля;
+ 3. переменное магнитное или электрическое поля вызывают образование совокупности вихревых электрического и магнитного полей.
20. Электромагнитная волна образуется:
1. как совокупность магнитных и электрических силовых линий;
2. если колебания вектора Е электрического поля и индукции В магнитного поля происходят в одинаковой фазе;
+ 3. если колебания вектора Е электрического поля и индукции В магнитного поля происходят во взаимно перпендикулярных плоскостях.
4. как распространение в вещественной среде или в вакууме электромагнитного поля;
Какая из составляющих электромагнитной волны оказывает световое действие?
1. магнитное поле;
+ 2. электрическое поле;
3. электромагнитное поле.
Дифракцией света называется явление . . .
1. сложения волн, в результате которого образуется устойчивая картина их усиления и ослабления;
+ 2. отклонения света от прямолинейного распространения в среде с резкими оптическими неоднородностями;
3. сложения когерентных волн;
4. зависимости показателя преломления среды от длины волны света.
Наблюдение дифракции возможно в том случае, если . . .
1. свет монохроматический;
+ 2. размеры неоднородностей соизмеримы с длиной волны света;
3. свет немонохроматический;
4. световые волны когерентны.
24. Условие образования максимума интенсивности света для дифракции на щели шириной d имеет вид:
+ 1. dsina = ±k.λ;
2. dcosa = ± k.λ;
3. dsina = ±(2k+1).λ/2;
4. dcosa = ±2 k.λ/2.
25.Условие образования минимума интенсивности света для дифракции на щели шириной d имеет вид:
1. dsina = ±k.λ;
2. dcosa = ± k.λ;
+ 3. dsina = ±(2k+1).λ/2;
4. dcosa = ±(2 k+1).λ/2.
Период (постоянная) дифракционной решетки равен . . .
1. ширине щели;
+ 2. суммарной ширине щели и промежутка между щелями;
3. ширине промежутка между щелями;
4. суммарной ширине всех щелей.
27. Укажите основную формулу дифракционной решетки:
+ 1. с.sina = ±k.λ
2. с.cosa = ± k.λ
3. с.sina = ±(2k+1).λ/2
4. с = a + b
Рентгеноструктурный анализ основан на явлении . . .
1. интерференции рентгеновских волн;
2. поляризации света в кристаллах;
+ 3. дифракции рентгеновских волн в кристаллической решетке;
4. двойного лучепреломления рентгеновских волн в кристаллах.
29. Укажите правильное высказывание:
+1) Если в щели укладывается четное число зон Френеля, то наблюдается минимум интенсивности света.
2) Наблюдение дифракции волн возможно, если размеры неоднородностей во много раз меньше длины волны света.
3) Согласно принципу Гюйгенса-Френеля, вторичные волны являются поляризованными.
30. Укажите правильное высказывание:
1) Чем больше порядок дифракционного спектра, тем меньше разрешающая способность дифракционной решетки.
+ 2) Периодом дифракционной решетки называется величина, равная сумме ширины щели и промежутка между щелями.
3) Рентгеноструктурный анализ основан на явлении поляризации света в кристаллах.
31. Укажите правильные высказывания:
+ 1) Если в щели укладывается нечетное число зон Френеля, то наблюдается максимум интенсивности света.
2) При уменьшении периода решетки угловая дисперсия уменьшается.
3) Согласно принципу Гюйгенса-Френеля, в каждой точке волновой поверхности наблюдается максимум интенсивности.
При каких условиях наблюдается дифракция?
+ 1. размеры препятствия соизмеримы с длиной волны
2. препятствие отсутствует
3. размеры препятствия гораздо больше длины волны
4. размеры препятствия гораздо меньше длины волны
5. размеры препятствия меньше длины волны
Интерференция света - это физическое явление, которое заключается в . . .
1. отклонении световых волн от прямолинейного распространения;
2. рассеянии волн в прозрачных дисперсных средах;
3. отклонении волн от прямолинейного распространения на границах раздела сред;
+ 4. сложении световых волн, идущих от когерентных источников.
Максимум интерференции в вакууме наблюдается в тех точках, для которых разность хода . .
1. равна постоянной величине;
2. не зависит от длины волны;
+ 3. равна целому числу длин волн;
4. равна целому числу длин полуволн.
35. Максимум интерференции наблюдается при условии:
1. d= x1n1-x2n2;
2. d= x1n1+x2n2;
+3. d= ± kλ;
4. d= ±(2k+1)λ;
5. d= ±2kp.
36. Укажите условие образования минимума интерференции:
1. d= ± 2kλ;
2. d= ± (2k+1)λ/2;
+ 3. d= ± (2k+1)λ;
4. d= ± kλ.